單片機外中斷使用方面的問(wèn)題及其解決方法

在長(cháng)期使用51單片機的過(guò)程中，我們發(fā)現單片機在工業(yè)生產(chǎn)現場(chǎng)等干擾較強的環(huán)境工作時(shí)，有時(shí)確已產(chǎn)生定義為下降沿觸發(fā)方式的外中斷，然而用儀器測量已經(jīng)送入單片機的INTX引腳時(shí)，單片機卻不能夠正常響應中斷。在排除了可能由程序導致的問(wèn)題之后，再檢查CPU的當前狀態(tài)，發(fā)現中斷級別、中斷允許、中斷觸發(fā)方式也都表明應該響應中斷。后經(jīng)分析及測試，發(fā)現是單片機INTX引腳內部端口鎖存器被置為零所致。當端口被封鎖為零時(shí)，從該引腳引入的下降沿表示的中斷申請將丟失，中斷當然不被響應。由于程序中并未使用可將端口鎖存器置為零的指令，且這種情況的產(chǎn)生具有一定的隨機性，并非經(jīng)常發(fā)生，所以認為這種現象可能是因電路干擾或噪聲造成鎖存器誤動(dòng)作導致的。同時(shí)我們還認為這種誤動(dòng)作和P3口的內部結構及操作方式有一定關(guān)系。

單片機外中斷輸入端的 P3口是具有第二變異功能的準雙向口，其每一位的內部結構如圖1所示。當變異功能輸出為高電平時(shí)，位口是普通I／O口。此時(shí)如對I／O口進(jìn)行寫(xiě)操作，數據由內部總線(xiàn)寫(xiě)入鎖存器，經(jīng)與非門(mén)和MOS管兩次反相后送出引腳；如對I／O口進(jìn)行讀操作，則必須先將鎖存器置為1，使MOS管截止，引腳被片內負載MOS 管（圖中標為上拉電阻）上拉為高電平，然后可進(jìn)行輸入操作，當輸入為低電平時(shí)它能被拉成低電平，引腳信息經(jīng)兩個(gè)緩沖器進(jìn)入內總線(xiàn)；如果使用第二功能（變異功能），輸入鎖存器同樣也必須先被置為1，這時(shí)引腳受變異功能輸出控制，若需使用變異功能輸入，則鎖存器和變異輸出必須同時(shí)置為1，使MOS管截止，變異功能輸入隨引腳的變化而變化。估計在第二功能時(shí)只能用于輸入中斷的P3．2和P3．3口，內部可能沒(méi)有變異功能輸出線(xiàn)，即使有，也只能上拉為固定的高電平?？梢?jiàn)，單片機P3口不管是通用I／O口還是變異功能輸入，其鎖存器都必須先置為1。單片機復位后所有I／O口的狀態(tài)都是1，一般在系統的初始化程序中定義過(guò)中斷優(yōu)先級，并在開(kāi)中斷之后單片機即可響應中斷，此后若關(guān)掉相應中斷允許位（置為0），則需從引腳進(jìn)入單片機的中斷有效信號（低電平或下降沿）雖然仍可進(jìn)入并使IE0（或IE1）置為1，但不能引起中斷，當然程序可查尋IE了解中斷源是否產(chǎn)生了中斷申請。

筆者注意到單片機I／O口有兩類(lèi)指令隱含著(zhù)對I／O口鎖存器的寫(xiě)入。

第一類(lèi)是讀I／O引腳指令，在執行了讀I／O引腳指令后，I／O口鎖存器狀態(tài)將變得和引腳相同，如果在中斷引腳為低電平期間正巧執行了這種指令，鎖存器將變?yōu)?態(tài)，中斷從此將不能進(jìn)入。

第二類(lèi)是讀－修改－寫(xiě)鎖存器指令，例如SETB　PX．Y和JBC　PX．Y，LABEL等，這些指令被執行時(shí)總是先讀入I／O口全部8位數據，作一定修改或判斷后再回寫(xiě)到鎖存器中。

在筆者的程序中沒(méi)有使用第一類(lèi)指令，第二類(lèi)指令倒是有，不過(guò)，不是對P3．2（或P3．3）進(jìn)行操作，而是對P3．4和P3．5進(jìn)行操作（因為系統中使用了P3．4和P3．5作為普通I／O位口）。但是，我們認為有可能在執行這一類(lèi)指令修改P3．4和P3．5鎖存器位時(shí)，由于受到較強的干擾而誤將 P3．2（或P3．3）寫(xiě)成了0，從而出現上述情況。為了驗證這一點(diǎn)，我們去掉了程序中對P3．4和P3．5進(jìn)行操作的指令，發(fā)現中斷不能進(jìn)入的現象基本消失，但在極個(gè)別情況下，中斷仍不能進(jìn)入，這種極個(gè)別的現象純粹是隨機干擾所致。

為徹底解決中斷不能進(jìn)入的問(wèn)題，采用了如下兩種措施：

（1）放棄P3口剩余的位口，不將其作為普通I／O位口用，而用單片機外部擴充的接口取而代之；

（2）在中斷服務(wù)程序即將退出之前，往P3．2（或P3．3）口寫(xiě)1，以使P3．2（或P3．3）位的鎖存器狀態(tài)在下一次中斷到來(lái)之前為1，從而保證不漏掉任何一次中斷申請。

對系統作了以上兩點(diǎn)改進(jìn)后，中斷丟失的現象再也沒(méi)有發(fā)生過(guò)。

參　考　文　獻
1　孫育才．MCS－51系列單片微型計算機及其應用．南京：東南大學(xué)出版社，1987