Altair聯(lián)手LG電子縮短智能手機的跌落測試模擬時(shí)間

　　Altair公司日前宣布了電子行業(yè)產(chǎn)品測試模擬的一個(gè)重要成就，該成就預計將加快新的智能手機、平板電腦、家電和其他消費類(lèi)電子產(chǎn)品的研發(fā)速度，幫助工程師設計更多的耐用產(chǎn)品。

　　Altair公司聯(lián)手韓國的LG電子(LGE)已經(jīng)成功地創(chuàng )造了一個(gè)無(wú)縫集成的跌落測試模擬自動(dòng)化系統。智能手機的跌落測試模擬是智能手機設計的一個(gè)關(guān)鍵步驟。通常進(jìn)行智能手機的跌落測試模擬需要一到兩周的時(shí)間，而該系統可使LG電子的工程師在24小時(shí)內完成該項測試模擬。

　　Altair公司的這套HyperWorks計算機輔助工程工具包括前處理器HyperMesh、求解器RADIOSS、后處理器HyperView和嵌入式自動(dòng)化框架。利用這套工具，Altair-LGE團隊可以自動(dòng)完成很多有關(guān)FEA建模、求解設置以及后處理過(guò)程中的耗時(shí)的手動(dòng)任務(wù)，以便于進(jìn)行跌落測試模擬。

　　Altair公司全球電子及消費產(chǎn)品高級總監洪莉(Molly Heskitt)表示：“Altair公司和LG電子公司在跌落測試模擬自動(dòng)化系統方面的合作，可以使LG電子更具競爭力，并有助于更多種類(lèi)的耐用產(chǎn)品更快地推向市場(chǎng)。這套自動(dòng)化系統解決了電子行業(yè)的重大挑戰：研發(fā)時(shí)間、創(chuàng )新和成本。它縮短了產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間，降低了產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和保修成本，為產(chǎn)品設計留出更多的時(shí)間，有助于生產(chǎn)更好的手機產(chǎn)品。”

　　工程師們利用跌落測試模擬自動(dòng)化系統所節省的時(shí)間，可以研究更多的產(chǎn)品設計方案，以便開(kāi)發(fā)一個(gè)更可靠的創(chuàng )新版本。LG電子已經(jīng)在正在研發(fā)的智能手機中采用跌落測試模擬自動(dòng)化系統檢測，并計劃將其用于所有未來(lái)的智能手機設計中。LG電子同時(shí)也采用Altair公司的OptiStruct工具來(lái)優(yōu)化手機設計，以降低產(chǎn)品成本和提高可靠性。

　　由于跌落測試模擬自動(dòng)化系統可以快速測試更多的跌落現象，所以?xún)?yōu)化過(guò)的智能手機將更加不容易因為跌落而損壞，LG電子預計這將降低其保修成本。

　　LG電子公司研究員Y.H Lee表示：“智能手機行業(yè)面臨的最大挑戰之一是上市時(shí)間問(wèn)題，在競爭激烈的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期方面，許多公司沒(méi)有足夠的時(shí)間考慮盡可能多的設計。跌落測試模擬的標準時(shí)間是7?14天，這個(gè)時(shí)間太長(cháng)了。與Altair公司合作，我們現在可以將跌落測試模擬所需的時(shí)間從一個(gè)星期縮減到數小時(shí)。”

　　Altair公司預計自動(dòng)化跌落測試模擬流程對其他類(lèi)型的消費類(lèi)電子產(chǎn)品設計也會(huì )產(chǎn)生類(lèi)似的結果。