基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

　　摘要：本方案采用安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB或安捷倫最新信號發(fā)生器N5182B/N5172B作為測試平臺，通過(guò)Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號并經(jīng)過(guò)信道衰落后送給基站進(jìn)行解碼從而可以統計出基站的吞吐率。

　　LTE(Long Term Evolution,長(cháng)期演進(jìn))技術(shù)是第三代移動(dòng)通信演進(jìn)的主要方向。作為一種先進(jìn)的技術(shù)，LTE系統在提高峰值數據速率、小區邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶(hù)面時(shí)延以及降低運營(yíng)和建網(wǎng)成本等方面擁有巨大的優(yōu)勢。同時(shí)，LTE系統與現有系統(2G/2.5G/3G)能夠共存，并且實(shí)現平滑演進(jìn)。

　　LTE系統按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時(shí)分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱(chēng)業(yè)務(wù)等諸多優(yōu)勢，是中國通信業(yè)界力推的國際標準。

　　系統吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標。吞吐率的測試需要基站(eNB)與測試儀器(模擬UE)之間實(shí)現實(shí)時(shí)反饋并動(dòng)態(tài)調整。測試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標準的TD-LTE 上行信號，同時(shí)還需要模擬相應的信道衰落模型，并且根據基站下發(fā)的ACK/NACK指令實(shí)時(shí)地調整發(fā)射信號的編碼冗余因子，以模擬真實(shí)的通信環(huán)境。

　　HARQ測試原理

　　上行HARQ方式

　　LTE系統將在上行鏈路采用同步非自適應HARQ技術(shù)。雖然異步自適應HARQ技術(shù)與同步非自適應技術(shù)比較，在調度方面的靈活性更高，但是后者所需的信令開(kāi)銷(xiāo)更少。由于上行鏈路的復雜性，來(lái)自其他小區用戶(hù)的干擾是不確定的，因此基站無(wú)法精確估測出各個(gè)用戶(hù)實(shí)際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準確性導致上行鏈路對于調制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確，所以更多地依賴(lài)HARQ技術(shù)來(lái)保證系統的性能。因此，上行鏈路的平均傳輸次數會(huì )高于下行鏈路。所以，考慮到控制信令的開(kāi)銷(xiāo)問(wèn)題，在上行鏈路使用同步非自適應HARQ技術(shù)。

　　上行HARQ時(shí)序

　　LTE TDD制式的上下行信號在時(shí)域上交錯分布，因此其HARQ時(shí)序映射關(guān)系較FDD更為復雜。根據3GPP TS 36.213規定，TDD制式不同UL/DL Configuration下，下行子幀只在規定位置發(fā)送ACK/NACK指令，每個(gè)位置發(fā)送的ACK/NACK指令對應特定的上行子幀信號，如表1所示?！　?/p>

 

　　3GPP TS 36.141規定性能測試只需在配置1下進(jìn)行，因此可以根據表1的描述得到配置1時(shí)的時(shí)序圖。