基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

　　在配置1時(shí)，上行只在子幀2、3、7和8四個(gè)位置發(fā)送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令，指令的指示對象及重傳位置關(guān)系如圖1所示?！　?/p>本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/145029.htm

 

　　測試平臺

　　硬件平臺

　　性能測試目的在于模擬實(shí)際環(huán)境下的系統吞吐率，因此需要基站與測試儀器進(jìn)行聯(lián)調。硬件測試平臺包括：支持2天線(xiàn)接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發(fā)生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統調試)。測試系統結構如下：PXB實(shí)時(shí)產(chǎn)生TD-LTE上行信號并經(jīng)過(guò)特定信道模型下的衰落后，輸出的基帶I/Q信號經(jīng)過(guò)MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線(xiàn)?；径藢邮盏降纳漕l信號進(jìn)行解調解碼，并以RS232C的串行通信方式將反饋結果(ACK/NACK指令)傳回至PXB，PXB根據ACK/NACK指令實(shí)時(shí)調整RV因子重新發(fā)送數據包或選擇放棄當前數據包(當eNB發(fā)送ACK信號或是已達到最大重傳次數)。最后基站端統計得到系統的吞吐率。

　　如果測試環(huán)境確實(shí)希望使用外置信道仿真器，則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號發(fā)生器即可完成上述系統的測試。典型的測量系統如圖3所示。