惠瑞捷V93000平臺獲ISE Labs硅谷及德州奧斯汀廠(chǎng)采用

　　半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy) (Advantest Group 愛(ài)德萬(wàn)集團子公司)今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠(chǎng)引進(jìn)V93000 Smart Scale 數位量測模組以及Pin Scale測試機種之測試設備，進(jìn)一步擴展雙方對于測試開(kāi)發(fā)服務(wù)的合作關(guān)系。

　　雙方長(cháng)遠結盟關(guān)系的最新計畫(huà)即為ISE Labs 奧斯汀廠(chǎng)將開(kāi)始采用惠瑞捷的Pin Scale 技術(shù)開(kāi)發(fā)先進(jìn)的測試方法，針對最新一代低功耗安謀(ARM)架構服務(wù)器處理器，搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 界面、消費性IC 如智慧媒體芯片內建系統(SOC) 設備，應用于下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標， ISE Labs 奧斯汀廠(chǎng)安裝L 級測試頭的V93000 Pin Scale 測試機臺，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及800 數位量測模組下，具備超過(guò)900 個(gè)數位信號腳位供測試。

　　此外，硅谷最大的半導體測試實(shí)驗室— ISE Labs 費利蒙廠(chǎng)，亦引進(jìn)了兩?臺配備Pin Scale 1600數位量測模組的V93000 Smart Scale 測試機，用以測試客戶(hù)量產(chǎn)的IC。其中一套系統使用Pin Scale 1600 以及9G 數位量測模組，有超過(guò)1, 000 個(gè)腳位的C 級測試頭;另一個(gè)系統則配備惠瑞捷最小的A 級測試頭，配有512 個(gè)數位量測腳位以及MB-AV8 PLUS 類(lèi)比信號量測模組。兩套系統均可擴充升級，提供增加數位量測腳數，或新增測量資源，如惠瑞捷的Port Scale 射頻解決方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技術(shù)，是硅谷測試服務(wù)供應商中的首創(chuàng )之舉。

　　ISE Labs工程與測試服務(wù)副總裁Rabbi-ul Islam 表示：「我們對于與惠瑞捷的長(cháng)期合作關(guān)系，一直感到相當滿(mǎn)意，也很高興能夠在奧斯汀技術(shù)中心開(kāi)始實(shí)施其經(jīng)認證的Pin Scale 技術(shù)?！?/p>

　　惠瑞捷北美銷(xiāo)售暨支援部門(mén)副總裁Sanjeev Mohan 強調：「能獲得ISE Labs 青睞，將新一代Smart Scale 系統運用于技術(shù)開(kāi)發(fā)以及商業(yè)測試服務(wù)，對我們來(lái)說(shuō)是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項測試應用都能達到業(yè)界領(lǐng)先的水準?！?/p>

　　惠瑞捷的可擴展Smart Scale 測試系統以及數位信號量測模組，展現最??具經(jīng)濟效益的先??進(jìn)半導體設計測試，包括28nm 技術(shù)節點(diǎn)及以下的3D 堆疊與IC設計。

　　Pin Scale 1600 數位量測模組在測試靈活性方面開(kāi)拓一個(gè)嶄新領(lǐng)域。此模組的萬(wàn)用per-pin 架構，讓每個(gè)通道在測試下都能夠發(fā)揮各種裝置所需的功能，帶來(lái)最大的靈活性。 Per-pin功能包括獨立時(shí)脈網(wǎng)域、高精準度的直流電與業(yè)界領(lǐng)先的數位效能，都可以透過(guò)Pin Scale 1600 進(jìn)行強化。

　　惠瑞捷的Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數位化且能夠涵蓋自直流到超過(guò)每秒8Gb，符合成本的高速測試制具。高度多樣化的Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點(diǎn)或多點(diǎn)、單向或雙向的界面。