DDR測試技術(shù)和工具是否跟上了時(shí)代步伐？

　　業(yè)界速度最快、最完整的DDR測試解決方案

　　對于DDR信號路徑（通道）鑒定和電路板/DIMM檢驗，泰克公司帶有TDR模塊和S參數分析軟件的DSA8200采樣示波器可以幫助工程師高效、簡(jiǎn)單地完成阻抗測量、插入損耗和回波損耗、串擾等測量項目，完成整個(gè)分析項目只需幾分鐘。該示波器的采樣帶寬>70GHz，最有最低的抖動(dòng)本底，改善了阻抗測量精度和分辨率（Z-Line），1M的存儲深度可保證對高頻信號的長(cháng)時(shí)間測試。

　　對于DDR的模擬特性和物理層調試，泰克帶寬達20GB的DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器和相關(guān)探測、測量軟件將是非常不錯的選擇，一個(gè)方案同時(shí)支持DDR1/2/3、LP-DDR、GDDR3。當然，特別值得一提的是還要搭配泰克公司的突破性探測工具和技術(shù)。不過(guò)，余嵐介紹說(shuō)：“對于經(jīng)費預算有限且DDR測試要求稍低的中小公司而言，泰克最新推出的高性?xún)r(jià)比中端示波器MSO/DPO5000也是不錯的選擇。”

　　眾所周知，不論是智能手機等直接將DRAM芯片焊接在PCB上的嵌入式設計還是計算機系統的標準化DIMM存儲卡，因為如今DDR2和DDR3都是采用FBGA封裝，所以DRAM芯片的探測都是非常困難，因為以往的邏輯分析儀和示波器探頭都不能探測到焊球，而通過(guò)連接器、PCB板或過(guò)孔這些測試點(diǎn)都不能真正代表DRAM內部情況。為此，泰克創(chuàng )業(yè)界先河，與Nexus公司合作，開(kāi)發(fā)出BGA芯片插座，該插座分為Socket版本和焊接版本，配合泰克公司的P7500系列TriMode(三模)專(zhuān)利探頭，可提供探測信號的完美保真度。

　　圖2：Nexus公司開(kāi)發(fā)的BGA芯片插座（分成socket版本和焊接版本）確保了DDR探測信號保真度。

　　泰克的TriMode(三模)探測技術(shù)使用單條探頭與DUT鏈接，不僅可完成傳統差分測量，而且可切換成在任一輸入上進(jìn)行獨立單端測量或直接進(jìn)行共模測量。以往，完成這些需要3個(gè)獨立探頭（見(jiàn)圖3）。

　　圖3：

　　左圖：以往1只探頭用于差分測量、2只探頭用于單端測量和共模測量

　　或1只探頭焊接和重焊三次、2只探頭用于共模測量。

　　右圖：1只TriMode探頭，通過(guò)切換進(jìn)行差分測量、單端測量和共模測量。

　　前文提到過(guò)，DDR信號不同于其他信號，其數據信號是雙向的，讀信號和寫(xiě)信號同時(shí)出現在信號線(xiàn)上。人們很難判斷當前捕獲到的數據是讀信號還是寫(xiě)數據，這就給測試效率會(huì )很低，也比較容易出錯。有了泰克公司的DDR自動(dòng)測試軟件選項如DDRA和DPOJET，就可使上述信號采集和分析問(wèn)題迎刃而解，而且可以加速驗證過(guò)程。DDRA的功能特性包括但不限于：

　　1.新的自動(dòng)配置向導，引導用戶(hù)簡(jiǎn)便地完成設置和測試配置；

　　2.可識別和分析整個(gè)采集中的所有讀/寫(xiě)突發(fā)；

　　3.為讀和寫(xiě)繪制DQS和DQ眼圖；

　　4.使用Pass/Fail 極限執行JEDEC一致性測試；

　　5.使用片選判定多排測量；

　　6.簡(jiǎn)便地在一致性測試工具和分析/調試工具之間切換；

　　7.使用Pass/Fail信息、統計測量結果和測試設置信息，自動(dòng)生成合并報告。