1AEC-Q認證是國際汽車(chē)電子領(lǐng)域的準入門(mén)檻
AEC即Automotive Electronics Council，是美國汽車(chē)電子委員會(huì )的簡(jiǎn)稱(chēng)。AEC由克萊斯勒，福特和通用汽車(chē)發(fā)起并創(chuàng )立于1994年，目前會(huì )員遍及全球各大汽車(chē)廠(chǎng)、汽車(chē)電子和半導體廠(chǎng)商，符合AEC規范的零部件均可被上述三家車(chē)廠(chǎng)同時(shí)采用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數據的意愿，并推動(dòng)了汽車(chē)零件通用性的實(shí)施，為汽車(chē)零部件市場(chǎng)的快速成長(cháng)打下基礎。AEC-Q為AEC組織所制訂的車(chē)用可靠性測試標準，是零件廠(chǎng)商進(jìn)入汽車(chē)電子領(lǐng)域，打入一級車(chē)廠(chǎng)供應鏈的重要門(mén)票。
AEC-Q100是AEC的第一個(gè)標準，主要是針對車(chē)載應用的集成電路產(chǎn)品所設計出的一套應力測試標準，此規范對于提升產(chǎn)品信賴(lài)性品質(zhì)保證相當重要。AEC-Q100是預防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認，特別對產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標準規范測試。
2要求通過(guò)AEC-Q100標準的車(chē)用集成電路IC
單顆IC，如MCU芯片、MPU芯片、存儲類(lèi)芯片、計算類(lèi)芯片、安全類(lèi)芯片、LED類(lèi)驅動(dòng)芯片、電源芯片、運算放大器、比較器、感知用模擬芯片、通信類(lèi)芯片等
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AEC-Q100車(chē)用IC產(chǎn)品驗證流程
4AEC-100測試項目分組
群組A--加速環(huán)境應力測試(PC、THB/HAST/AC、UHST/TH、TC、PTC、HTSL)共6項測試
群組B--加速生命周期模擬測試(HTOL、ELFR、EDR)--共3項測試
群組C--封裝組裝完整性測試(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI)--共6項測試
群組D--芯片制造可靠性測試(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM)--共5項測試
群組E--電性驗證測試(TEST、HBM/MM、CDM、LU、ED、FG、CHAR、EMC、SC、SER、LF)--共11項測試
群組F--缺陷篩選測試(PAT、SBA)--共2項測試
群組G--腔體封裝完整性測試(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV)--共8項測試
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華碧能力范圍及AEC-100技術(shù)要求
關(guān)于華碧實(shí)驗室
華碧實(shí)驗室是國內領(lǐng)先的集檢測、鑒定、認證和研發(fā)為一體的第三方檢測與分析的新型綜合實(shí)驗室，擁有豐富的車(chē)規級電子認證經(jīng)驗，已成功幫助300多家企業(yè)順利通過(guò)AEC-Q系列認證，通過(guò)AEC-Q100對每一個(gè)芯片個(gè)案進(jìn)行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認。
華碧實(shí)驗室以車(chē)企車(chē)規芯片國產(chǎn)化需求為牽引，依托國產(chǎn)半導體產(chǎn)業(yè)基礎，提供完善的檢測認證服務(wù)，通過(guò)AEC-Q100車(chē)用標準嚴格把控汽車(chē)芯片安全質(zhì)量，助力國產(chǎn)車(chē)規級芯片大力發(fā)展，為打造智能汽車(chē)安全體系再添新動(dòng)力。
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