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ACS測試系統將圓片級可靠性測試速度提高五倍
- 新興測量需求解決方案領(lǐng)導者美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI），日前宣布增強了其ACS（Automated Characterization Suite，自動(dòng)特征分析套件）軟件，納入了面向半導體可靠性與壽命預測測試應用的WLR（wafer level reliability，圓片級可靠性）備選測試工具。4.0版以ACS軟件已有的單點(diǎn)和多點(diǎn)并行測試功能為基礎，增加了對數據庫的支持，以及最新的RTM（Reliability Test Module，可靠性測試模塊）軟件工具和備選l
- 關(guān)鍵字： ACS WLR RTM
ST與ACS擬為汽車(chē)與基礎設施整合開(kāi)發(fā)芯片
- 意法半導體和汽車(chē)通信系統宣布合作為汽車(chē)與基礎設施整合計劃(VII)開(kāi)發(fā)集成電路。 VII計劃旨在于探討車(chē)對車(chē)和車(chē)對路邊高速通信的潛在的安全好處。VII活動(dòng)的參與者包括美國聯(lián)邦政府、世界最大的汽車(chē)公司、零配件供應商、咨詢(xún)公司等。如果計劃成功，汽車(chē)OEM廠(chǎng)商將在北美銷(xiāo)售的所有新車(chē)上安裝車(chē)載設備，聯(lián)邦政府將在所有主要公路上安裝基礎設施。這個(gè)計劃是聯(lián)邦政府大幅度提高公路安全性和利用率、減少出行時(shí)間、為廣大駕駛員提供前所未有的駕駛信息的交通規劃的重要組成部分。 作為汽車(chē)電子和半導體制造業(yè)的老牌勁旅，
- 關(guān)鍵字： 汽車(chē)電子 ST ACS 芯片 嵌入式
吉時(shí)利發(fā)布ACS自動(dòng)特征分析套件集成測試系統
- 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布了ACS（Automated Characterization Suite）自動(dòng)特征分析套件集成測試系統。該測試系統實(shí)現器件級、圓片級和黑盒級半導體特征分析工作。包括ACS集成測試系統在內，吉時(shí)利已在半導體特征分析領(lǐng)域成功建立整套高度可配置的靈活測試系統，并通過(guò)功能強大的自動(dòng)化軟件為用戶(hù)提供無(wú)可比擬的測量性能。ACS測試系統通過(guò)統一軟件套件，提供更快測量速度和更大系統靈活性，以滿(mǎn)足用戶(hù)獨特的測試應用需求。 在統一自動(dòng)特征分析套件中、吉時(shí)利ACS集成測
- 關(guān)鍵字： ACS 測量 測試 吉時(shí)利 自動(dòng)特征分析套件集成測試系統
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