測試文章進(jìn)入測試技術(shù)社區

3D集成系統的測試自動(dòng)化

封裝技術(shù)的進(jìn)步推動(dòng)了三維(3D)集成系統的發(fā)展。3D集成系統可能對基于標準封裝集成技術(shù)系統的性能、電源、功能密度和外形尺寸帶來(lái)顯著(zhù)改善。雖然這些高度集成系統的設計和測試要求仍在不斷變化，但很顯然先進(jìn)的測試自
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如何應對GaN測量挑戰

功耗是當今電子設計以及測試中最熱門(mén)也是競爭最激烈的領(lǐng)域之一。這是因為人們對高能效有強烈需求，希望能充分利用電池能量，幫助消減能源帳單，或者支持空間敏感或熱量敏感型應用。在經(jīng)過(guò)30年的發(fā)展之后，硅MOSFET發(fā)
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您的接地很靠譜嗎？C 雷人至暈的測試故事(2)

如果哪位仁兄沒(méi)有遇到過(guò)接地的問(wèn)題，肯定不是干EE的! 在研發(fā)和測試過(guò)程中的接地都很重要。不良的接地，不僅可能導致錯誤的測量，甚至會(huì )損壞儀器和被測件。例如，在使用示波器時(shí)，會(huì )看到很大的噪聲和詭異的波形，
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測電流就宕機，萬(wàn)用表惹的禍？ C 雷人的測試故事(3)

有一位仁兄，從事軍用計算機的測試工作。軍用計算機的要求與我們民用的有很大的區別。如果我們自己選用的PC機，我們關(guān)心的可能是CPU的速度、存儲器、內存、顯卡等等。但軍用計算機需要考慮的首要問(wèn)題，就是可靠性。
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電磁兼容測試實(shí)質(zhì)

1、輻射發(fā)射測試測試電子、電氣和機電設備及其組件的輻射發(fā)射，包括來(lái)自所有組件、電纜及連線(xiàn)上的輻射發(fā)射，用來(lái)鑒定其輻射是否符合標準的要求，一致在正常使用過(guò)程中影響同一環(huán)境中的其他設備。2、傳導騷擾測試為了
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新能源汽車(chē)電機如何測試

汽車(chē)換心行動(dòng)是當下主流的趨勢，汽車(chē)的動(dòng)力來(lái)源將由電機取代傳統的內燃機，今天我們就來(lái)做一次別開(kāi)生面的“大手術(shù)”。
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快充測試一鍵完成--費思負載應用之快速充電器測試

費思電子負載針對快速充電器的測試應用：只要按一下按鍵，負載會(huì )自動(dòng)開(kāi)始測試，并對快速充電器進(jìn)行輸出狀態(tài)改變觸發(fā)，配合輸出改變，完成各種輸出狀態(tài)的測試，自動(dòng)完成測試，自動(dòng)給出判斷?？焖俪潆娖鲬脧V泛，是未
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25Gbps以上高速串行總線(xiàn)的測試挑戰

引言：當今由于電子產(chǎn)品對數據吞吐率要求越來(lái)越高，這使得信號傳輸速率也越來(lái)越高且往往需要多個(gè)通道同時(shí)傳輸，這給測試帶來(lái)了很大的挑戰。當今由于電子產(chǎn)品對數據吞吐率要求越來(lái)越高，這使得信號傳輸速率也越來(lái)越高
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你所不知道的事――底噪關(guān)乎生產(chǎn)力！

很多朋友都有購買(mǎi)耳機的經(jīng)驗，當我們穿梭在琳瑯滿(mǎn)目的電子市場(chǎng)中，各種造型和價(jià)位的耳機讓我們無(wú)所適從，有的耳機要價(jià)千元以上，而有的卻只賣(mài)幾元錢(qián)，差價(jià)令人咋舌。為何同樣是耳機，售價(jià)卻如此懸殊呢?除了品牌含金
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遠距離操作和測試腳本

處理器的使用在進(jìn)入實(shí)際測試實(shí)例之前，我們先討論用于此測試應用的新儀器特性。2600系列源表具有強大的嵌入式計算機或測試腳本處理器，因而能實(shí)現在堆架式儀器中從未見(jiàn)過(guò)的功能?？梢詫⑼暾臏y試程序(腳本)下載至T
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實(shí)際不穩定問(wèn)題和穩定方案

圖1描述了實(shí)際系統對1A負載電流脈沖的電壓響應(下面的曲線(xiàn))。負載是阻性的，電纜長(cháng)度可以忽略(負載直接連在電源輸出端)。負載電壓對負載電流脈沖上升沿和下降沿的響應顯示了10mV壓降與10mV過(guò)沖。這非常接近于能夠實(shí)
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電容器檢測技巧分享

電容器檢測方法主要分為三個(gè)大類(lèi)：可變電容器的檢測、電解電容器的檢測、固定電容器的檢測。1、可變電容器的檢測A用手輕輕旋動(dòng)轉軸，應感覺(jué)十分平滑，不應感覺(jué)有時(shí)松時(shí)緊甚至有卡滯現象。將載軸向前、后、上、下、左
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通用變頻器在日常的維護事項

伴隨著(zhù)自動(dòng)化領(lǐng)域的不斷向前發(fā)展，變頻器的應用也深入到了各行各業(yè)各個(gè)領(lǐng)域，變頻器也在不斷地推陳出新，功能越來(lái)越強大，可靠性也相應地越來(lái)越高。但是如果使用不當，操作有誤，維護不及時(shí)，仍會(huì )發(fā)生故障或運行狀況
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電路評估與測試 - 單電源、低功耗的可編程窗口檢測器

電路評估與測試設備要求(可以用同等設備代替)EVAL-SDP-CB1Z系統演示平臺CN-0182電路評估板(EVAL-CN0182-SDZ)CN-0182評估軟件TektronixTDS2024，4通道示波器HP-E3630A0V至6V、2.55Aplusmn;20V、0.5A三路輸出直流電源
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高通面向半導體制造測試成立高通通訊技術(shù)公司

　　Qualcomm Incorporated今日宣布成立高通通訊技術(shù)(上海)有限公司(Qualcomm Communication Technologies (Shanghai) Co. Ltd.) ，新公司位于上海外高橋自由貿易區，擁有半導體測試設施，這也是Qualcomm首次涉足半導體制造測試業(yè)務(wù)。通過(guò)與全球領(lǐng)先的半導體封裝和測試服務(wù)提供商Amkor Technologies, Inc.合作，新公司將Amkor豐富的測試服務(wù)經(jīng)驗和尖端的凈室設施與Qualcomm Technologies行業(yè)領(lǐng)先的前
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測試介紹

　　中文名稱(chēng)：　　測試　　英文名稱(chēng)：　　test 　　定義1：　　對在受控條件下運動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應用學(xué)科：　　航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗。　　應用學(xué)科：　　通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細 ]