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半導體測試 文章 進(jìn)入半導體測試技術(shù)社區
吉時(shí)利ACS基礎版V1.2為半導體測試應用提供全新可用性、便捷性和高產(chǎn)能體驗
- 吉時(shí)利儀器公司，作為全球先進(jìn)電子測試儀器和系統的領(lǐng)先制造商，日前針對半導體測試與測量應用推出ACS基礎版半導體參數測試軟件的最新版本。ACS基礎版V1.2進(jìn)一步提高了元件或離散(封裝的)半導體器件特征分析的可用性、便捷性和測試產(chǎn)能。它具有Trace模式，能夠實(shí)時(shí)檢查測量結果，采用交互的方式控制電壓掃描，避免緊急情況下可能出現的器件擊穿。除了完全支持吉時(shí)利各種數字源表(SMU)之外，ACS基礎版將高速硬件控制、器件連接和數據管理功能集成在一套簡(jiǎn)潔易用的工具中， 并針對部件驗證、調試和分析進(jìn)行優(yōu)化。要想了
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 半導體測試 ACS
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