EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
功能測試
功能測試 文章 進(jìn)入功能測試技術(shù)社區
控制器測試工裝放電技術(shù)

- 耿本利,陳中煒,程? 磊,張秀鳳 (格力電器(合肥)有限公司,安徽?合肥??230088)摘? 要:控制器是空調的大腦,在整機運行上起著(zhù)至關(guān)重要的作用??刂破鞯馁|(zhì)量直接決定了空調的使用壽 命??刂破髟谏a(chǎn)時(shí)需模擬整機運行狀態(tài)進(jìn)行功能測試,測試主板上各模塊電路能否正常工作,在此基礎上增 加放電電路,不僅可提前篩選出功能異常的電路板,同時(shí)能保障測試工裝電壓不對主板進(jìn)行損害,最終提高整 機的可靠性,降低售后投訴,提高公司品牌質(zhì)量。 關(guān)鍵詞:控制器;功能測試;放電電路;可靠性0 引言&nbs
- 關(guān)鍵字: 202003 控制器 功能測試 放電電路 可靠性
IC卡功能測試與產(chǎn)業(yè)化測試不可偏廢
- 2011年3月15日,中國人民銀行發(fā)布《中國人民銀行關(guān)于推進(jìn)金融IC卡應用工作的意見(jiàn)》,決定在全國范圍內正式啟動(dòng)銀行卡芯片化遷移工作(既EMV遷移)。EMV遷移是近年來(lái)我國順應國際銀行卡發(fā)展趨勢,立足國情,在改善金融,服務(wù)民生,提升電子支付風(fēng)險防范水平,推動(dòng)銀行卡產(chǎn)業(yè)升級方面實(shí)施的一項重要戰略舉措。中國人民銀行將推廣金融IC卡行業(yè)應用作為重大發(fā)展戰略,有計劃、有步驟地組織銀行業(yè)開(kāi)展EMV遷移?!笆濉逼陂g將加快銀行卡芯片化進(jìn)程,全面推進(jìn)金融IC卡應用,以促進(jìn)中國銀行卡的產(chǎn)業(yè)升
- 關(guān)鍵字: IC卡 功能測試
嵌入式軟件三大潛在問(wèn)題及其測試技術(shù)
- 本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見(jiàn)的錯誤,并介紹的幾個(gè)技巧幫助工程師發(fā)現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開(kāi)...
- 關(guān)鍵字: 堆棧溢出 軟件開(kāi)發(fā) 功能測試
開(kāi)關(guān)電源常規功能測試分析
- 一、輸出電壓調整:當制造開(kāi)關(guān)電源
- 關(guān)鍵字: 分析 功能測試 常規 開(kāi)關(guān)電源
半導體功能測試基礎術(shù)語(yǔ)
- 半導體功能測試包含一些新的術(shù)語(yǔ),這里先簡(jiǎn)單介紹一下:Output Mask 輸出屏蔽,一種在功能測試期間讓測試通道的輸出比較功能打開(kāi)或關(guān)閉的方法,可以針對單獨的pin在單獨的周期實(shí)施。Output Sampling 輸出采樣,在功能
- 關(guān)鍵字: 半導體 功能測試 基礎 術(shù)語(yǔ)
功能測試介紹
黑盒測試(Black-box Testing,又稱(chēng)為功能測試或數據驅動(dòng)測試)是把測試對象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測試時(shí),需要測試軟件產(chǎn)品的功能,不需測試軟件產(chǎn)品的內部結構和處理過(guò)程。
采用黑盒技術(shù)設計測試用例的方法有:等價(jià)類(lèi)劃分、邊界值分析、錯誤推測、因果圖和綜合策略。
黑盒測試注重于測試軟件的功能性需求,也即黑盒測試使軟件工程師派生出執行程序所有 [ 查看詳細 ]
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
