測試測量技術(shù)發(fā)展趨勢

　　面對這樣的挑戰，一種以軟件為核心的無(wú)線(xiàn)測試平臺正嶄露頭角。信號的上下變頻和數字化由模塊化的射頻硬件完成，而編解碼和調制解調的過(guò)程全部通過(guò)軟件實(shí)現。這樣，在統一的模塊化硬件平臺上，只需修改軟件就可以滿(mǎn)足不同無(wú)線(xiàn)標準的測試需求，使得工程師有能力在第一時(shí)間測試最新的標準，加快產(chǎn)品的上市時(shí)間。

　　NI LabVIEW和PXI RF平臺就是這樣一個(gè)軟件無(wú)線(xiàn)電的測試平臺，多年來(lái)已經(jīng)成為工程師和科學(xué)家們開(kāi)發(fā)無(wú)線(xiàn)標準和測試無(wú)線(xiàn)應用的必備工具。例如德州大學(xué)奧斯汀分校的師生基于NI的軟件無(wú)線(xiàn)電平臺，在短短6周時(shí)間內開(kāi)發(fā)出MIMO-OFDM 4G的系統原型;成都華日通信公司(國內無(wú)線(xiàn)電頻譜管理設備主要供應商)利用NI PXI矢量信號分析儀和LabVIEW開(kāi)發(fā)了帶有自主產(chǎn)權的HR-100寬帶無(wú)線(xiàn)電接收機和監測系統，已廣泛應用于國內的頻譜監測和信號定向領(lǐng)域。聚星儀器(NI大陸地區系統聯(lián)盟商)也開(kāi)發(fā)出了全球首個(gè)支持C1G2 RFID標準全部指令的測試設備，并實(shí)現了與RFID標簽微秒級的實(shí)時(shí)通信。

　　趨勢五：協(xié)議感知ATE將影響

　　半導體的測試

　　如今的半導體器件變得愈加復雜，高級的片上系統(SoC)和封裝系統(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言，需要更為復雜的系統級的功能測試?，F在器件的功能也不再是通過(guò)簡(jiǎn)單的并行數字接口實(shí)現，而是更多依賴(lài)于高速串行總線(xiàn)和無(wú)線(xiàn)協(xié)議進(jìn)行輸出，這就要求測試設備和器件之間能夠在指定的時(shí)鐘周期內完成高速的激勵和響應測試。

　　復雜的測試需求催生了協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE的誕生，Andrew Evans在2007國際測試會(huì )議(ITC)上發(fā)表的論文“The New ATE - Protocol Aware”中首次提出了這個(gè)概念。這是一種模仿器件真實(shí)使用環(huán)境(包括外圍接口)的方法，按照器件期望的使用方式，進(jìn)行有針對性的器件功能測試和驗證。

　　國際半導體測試協(xié)會(huì )(STC)和新近成立的半導體測試合作聯(lián)盟(CAST)都在考慮為自動(dòng)化測試廠(chǎng)商制定開(kāi)放的測試架構，以滿(mǎn)足日益增加的半導體測試需求和降低測試成本。NI作為STC協(xié)會(huì )便攜式測試儀器模塊(PTIM)工作組的主席，正在致力于創(chuàng )建一種新的指南和標準，使工程師能夠將第三方的模塊化測試儀器(如PXI)集成到傳統的半導體ATE中，以實(shí)現更為靈活自定義、符合“協(xié)議感知”要求的半導體測試系統。

　　把握發(fā)展趨勢，占據市場(chǎng)先機，在全球經(jīng)濟步入調整期的今天，相信測試測量行業(yè)仍會(huì )有一個(gè)美好的未來(lái)。

　　參考文獻：

　　[1] NI LabVIEW 虛擬儀器動(dòng)力之源[R/OL].http://www.ni.com/labview/zhs/

　　[2] 朱君.測試測量?jì)x器技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入2.0時(shí)代[J].儀器儀表. 2007.5

　　[3] 新一代的自動(dòng)化測試[R/OL]. http://www.ni.com/automatedtest/zhs/

　　[4] PXI自動(dòng)測試平臺[R/OL].http://www.ni.com/pxi/zhs/

　　[5] Evans A.The New ATE - Protocol Aware[C]. 2007國際測試會(huì )議(ITC)