科利登在IC China 2005展出高量產(chǎn)測試系統

    2005年8月22日，來(lái)自中國北京的消息：科利登系統公司 (納斯達克代碼：CMOS) 日前宣布將參展2005年 8月24號至26號在北京舉行的IC China 2005。該展會(huì )是半導體設備供應商及電子行業(yè)的一個(gè)首要集會(huì )，它由中國半導體工業(yè)協(xié)會(huì )和中國貿促會(huì )電子信息行業(yè)分會(huì )(CCPIT-ECC)共同舉辦。

    為了滿(mǎn)足中國區域快速增長(cháng)的低成本市場(chǎng)需求，科利登將展出Sapphire家族的最新成員Sapphire D-10系統。Sapphire D-10是一款創(chuàng )新的高產(chǎn)能多功能的圓片和封裝測試系統，特別用于應對微處理器，無(wú)線(xiàn)基帶，顯示驅動(dòng)控制器及低成本消費類(lèi)混合信號器件的低成本測試的需求。支持200Mbps的圓片測試，同時(shí)還支持高并行度的產(chǎn)品測試，Sapphire D-10非常適合支持中國半導體工業(yè)的快速發(fā)展。

    科利登的首席執行官Dave Ranhoff說(shuō):“隨著(zhù)去年中國電子信息制造產(chǎn)業(yè)3203億美元的銷(xiāo)售總額，中國已經(jīng)成為全球最大的電子信息產(chǎn)品制造地之一。積極地參與和支持IC China這樣的展會(huì )和行業(yè)集會(huì )，是科利登公司對快速增長(cháng)的中國半導體市場(chǎng)及本地客戶(hù)的承諾和義務(wù)之一?！?br/> 
    除了Sapphire D－10系統，科利登還將突出其非揮發(fā)性存儲器測試和汽車(chē)電子測試的解決方案，并會(huì )有三場(chǎng)技術(shù)論文報告――”閃存測試的復雜性”，”汽車(chē)電子測試的低成本解決方案”和”使用真正的模塊化高產(chǎn)能測試系統結構來(lái)降低測試成本”。IC China 2005將在北京海淀展覽館舉行,科利登展臺號：3號館B10。