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復雜配線(xiàn)系統中絕緣缺陷診斷與定位技術(shù)

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作者:西北工業(yè)大學(xué)機電學(xué)院 劉瑞花 向平 時(shí)間:2007-12-30 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  摘要: 本文介紹了國內外診斷與定位技術(shù)的幾種典型方法。重點(diǎn)分析了目前國外最新研究并成功應用于飛機配線(xiàn)系統檢測的(PASD)法。最后總結了幾種診斷與定位技術(shù)方法的應用范圍和局限性,并對PASD法的應用前景做出展望。

  關(guān)鍵詞;;;時(shí)域反射

  引言

  載人航天器、商業(yè)客機一旦出現事故,將難以救助,其造成的社會(huì )影響力遠大于地面、水面運載工具的事故影響力。同時(shí),由于航天器、商業(yè)客機的造價(jià)遠大于地面運載工具,發(fā)生事故后發(fā)生的經(jīng)濟效應非常嚴重,如1998年瑞士航空公司一架客機因電線(xiàn)著(zhù)火失事,最終造成了公司破產(chǎn)。航天器、飛機上有非常復雜的通信、電力系統,在高空紫外輻射環(huán)境下,特別是對于航天器的飛行環(huán)境,宇宙高能射線(xiàn)會(huì )加速系統絕緣的老化,導致絕緣缺陷。及時(shí)診斷絕緣缺陷,以解決安全隱患,對于保證航天器、飛行器的安全具有非常重要的意義。

  傳統的檢測方法

  時(shí)域反射法(TDR)是一種遠程電子測量技術(shù)。它最早被應用于電力和通訊工業(yè)上,用于確定通信電纜和輸電線(xiàn)路的故障與斷裂。其所采用的基本原理是“脈沖發(fā)射”法。根據傳輸線(xiàn)理論,在有限電纜的一端發(fā)送一個(gè)探測脈沖,它就會(huì )沿著(zhù)電纜線(xiàn)路進(jìn)行傳輸,如果線(xiàn)路正常且終端負載阻抗等于線(xiàn)路的特征阻抗時(shí),發(fā)射脈沖被負載吸收而無(wú)反射回波產(chǎn)生;如果線(xiàn)路有故障時(shí),故障點(diǎn)的阻抗不再是線(xiàn)路的特征阻抗,從而將產(chǎn)生反射回波,其反射系數定義為反射波幅度與入射波幅度的比值。當線(xiàn)路發(fā)生斷線(xiàn)等故障時(shí),故障點(diǎn)的阻抗即為負載阻抗,通過(guò)測量出的反射系數, 計算出負載阻抗的大小,再依據傳輸線(xiàn)的特征阻抗,就能夠分析出故障的性質(zhì)。同時(shí),通過(guò)測量發(fā)射脈沖和反射脈沖之間的時(shí)間間隔,可以計算出測量點(diǎn)與故障點(diǎn)的實(shí)際距離,從而精確定位。

  在進(jìn)行TDR測量時(shí),必須處理TDR波形中的多次反射問(wèn)題。被測裝置如果具有若干阻抗層,這種多次反射就會(huì )使TDR示波器上的圖像嚴重失真。對于由同軸電纜、金屬屏蔽層和周期性的用節點(diǎn)和系帶捆綁在一起的雙絞線(xiàn)組成的,存在沿導線(xiàn)長(cháng)度方向的高度不均勻阻抗特性,這時(shí)就不適宜采用時(shí)域反射法進(jìn)行絕緣缺陷的診斷與定位。

  局部放電是絕緣介質(zhì)內部發(fā)生的局部重復擊穿和熄滅現象,這種放電一般發(fā)生在電纜的局部缺陷處,放電量很小,在放電初期基本不會(huì )影響電力電纜的絕緣能力,但如果這種放電長(cháng)期發(fā)生,則會(huì )逐漸的損壞電纜的絕緣,縮短電纜壽命。

  由于局部放電時(shí),電纜的絕緣電阻、介質(zhì)損耗和泄露電流都不會(huì )有太大變化,因此,檢測以上參數是無(wú)法判斷出局部放電的。但在絕緣發(fā)生局部放電的時(shí)候,一般都會(huì )產(chǎn)生電脈沖、電磁波放射、光、熱、聲等現象,基于對這些現象的研究,局部放電檢測技術(shù)中相應出現了電檢測法和光測法、聲測法、紅外熱測法等非電量檢測方法。

  在目前市場(chǎng)上,電測法仍是局部放電檢測中最重要的手段,其中的脈沖電流法已經(jīng)很成熟,由于其檢測靈敏度很高,且容易進(jìn)行放電量校準,但是,由于其易受到外電路的電磁干擾,使其靈敏度大大下降,在現場(chǎng)環(huán)境中,脈沖電流法應用并不很多。超高頻檢測法是近年發(fā)展起來(lái)的新型局部放電檢測方法,具有頻帶高、靈敏度好、抗電磁干擾能力強等顯著(zhù)優(yōu)點(diǎn),被認為是最有潛力的局部放電在線(xiàn)檢測方法。但是,超高頻檢測用微帶天線(xiàn)傳感器目前還在研究之中,制造工藝要求甚高,技術(shù)尚不成熟。

  法用于絕緣診斷

  1996年,Department of Energy-sponsored Nuclear Energy (DEO)對于PASD法在中的應用首次立項進(jìn)行了試驗研究。這項關(guān)于PASD法的基礎性研究于2002年10月申請到一個(gè)美聯(lián)邦航空部(FAA)為期3年的項目,研究焦點(diǎn)集中在商業(yè)航天器復雜配線(xiàn)系統和PASD技術(shù)的實(shí)際應用。研究證實(shí)PASD法能夠檢測和定位復雜配線(xiàn)系統中的多種缺陷,例如運行在空間環(huán)境中的航天器導線(xiàn)系統的老化過(guò)程,制造缺陷,安裝損壞以及在傳統電線(xiàn)/電纜系統中各種各樣缺失的缺陷。Sandia國家實(shí)驗室于2005年2月8日因PASD技術(shù)獲得了美國專(zhuān)利。

  PASD技術(shù)采用一個(gè)高電壓(幾kV),低能量(幾mJ)的短脈沖來(lái)誘發(fā)絕緣缺陷點(diǎn)處的電氣火花放電,圖1為其概念圖解。此脈沖由一個(gè)結構緊湊的電池驅動(dòng)的脈沖發(fā)生器產(chǎn)生,它可以和進(jìn)行絕緣缺陷診斷的軟件一起封裝在一個(gè)小盒子里,組成一個(gè)便攜式系統。此脈沖能量在量級上與走在人工地毯上而產(chǎn)生的靜電放電電量相當。足夠低的能量水平不會(huì )損壞主絕緣或復雜配線(xiàn)系統中的導體。放電沿測試條件下的導體到一個(gè)鄰近的返回通道(另一導線(xiàn)或地面) 內發(fā)生。在短短幾個(gè)納秒時(shí)間內發(fā)生電弧阻抗擊穿,這將產(chǎn)生一個(gè)瞬時(shí)的短路并把能量返回到注入點(diǎn)處的傳感器。這時(shí)傳統的TDR技術(shù)就可以準確地定位缺陷點(diǎn)的位置。這項技術(shù)還可用來(lái)直接檢測絕緣系統的介電強度,因為PASD電壓還不足以擊穿整個(gè)絕緣體,僅僅是暴露在中心的絕緣缺陷受到影響。

圖1  PASD概念的圖解

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  PASD技術(shù)首先利用低電壓(數百伏)脈沖測試電纜的阻抗特性,建立對PASD在不規則阻抗配線(xiàn)系統中測試能力非常重要的阻抗基線(xiàn)。此基線(xiàn)用于對比高電壓脈沖下的發(fā)生擊穿的電纜阻抗曲線(xiàn)。然后注入脈沖電壓并逐漸上升以檢測絕緣缺陷。如果出現能探測到的缺陷的最小閾值,傳感器波形將偏離低電壓特性基線(xiàn)。波形與特性基線(xiàn)相分離是由于發(fā)生了電弧擊穿,兩個(gè)波形的分離點(diǎn)即為絕緣缺陷點(diǎn)處。

  隨著(zhù)施加測試電壓的升高,在相同實(shí)驗過(guò)程中的基線(xiàn)變化是規則的。因而不需要為了對比而建立線(xiàn)路特性基線(xiàn)的數據庫。這也是脈沖火花放電法的優(yōu)點(diǎn)。

  脈沖火花放電法的技術(shù)難點(diǎn)

  實(shí)驗證明PASD法在較長(cháng)的配線(xiàn)系統中也非常有效。在PASD的早期發(fā)展中,人們關(guān)注的是PASD脈沖的高頻分量能不能有效地沿著(zhù)為低頻特性而設計的絕緣長(cháng)導線(xiàn)傳播。當 PASD脈沖沿著(zhù)長(cháng)導線(xiàn)傳播時(shí),脈沖振幅的衰減主要是由導線(xiàn)的非均勻阻抗特性引起的。這在松散的捆綁在一起的雙絞線(xiàn)中特別明顯,進(jìn)行相關(guān)研究則具有重大的意義。

  對更長(cháng)的線(xiàn)路長(cháng)度,首先對線(xiàn)路施加1~2kV的預脈沖,然后再施加PASD脈沖。預脈沖可以是單一的直流電壓,也可以是幾微妙的短脈沖。當處理較長(cháng)導線(xiàn)時(shí)這種“復合脈沖”方法比單一脈沖更為有效。因為在長(cháng)導線(xiàn)中持續的阻抗變化不斷地削弱PASD脈沖的峰值,如果削弱足夠厲害,就會(huì )沒(méi)有足夠的電壓擊穿缺陷點(diǎn)。如果施加一個(gè)緩慢上升的預脈沖,整條線(xiàn)路上的電勢隨阻抗變化獨立上升。隨后快速上升的PASD脈沖注入并沿著(zhù)導線(xiàn)傳播到檢測缺陷點(diǎn)(缺陷點(diǎn)處已經(jīng)充電到大約幾千伏,這時(shí)PASD脈沖就比較容易將缺陷點(diǎn)擊穿)。這種“復合脈沖”方法的實(shí)施是PASD法的難點(diǎn)。

  PASD法應用實(shí)例

  實(shí)例1:PASD法檢測與定位表面破損

  圖2(a)顯示了一個(gè)同軸電纜上外部屏蔽層存在磨損的例子。

圖2(a)  同軸電纜外部屏蔽層存在磨損

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  圖2(b)顯示了在此電纜在測試條件下的PASD波形。下面的波形代表測試條件下電纜的低電壓阻抗基線(xiàn)。上面的波形是高電壓脈沖誘發(fā)絕緣缺陷點(diǎn)處擊穿的阻抗曲線(xiàn)。波形首次分離處代表電纜的起點(diǎn),末次分離處代表電纜終點(diǎn)。兩次事件的時(shí)間差表示電纜的長(cháng)度(以時(shí)間計)。顯而易見(jiàn),由于電弧擊穿導致缺陷點(diǎn)處阻抗發(fā)生急劇變化。這個(gè)變化大概發(fā)生在沿電纜長(cháng)度的中點(diǎn)。計算得到缺陷點(diǎn)位于25.8英尺長(cháng)電纜的11.7英尺處。

圖2(b)  電纜的PASD波形

  在這個(gè)實(shí)例中,PASD的脈沖峰值為12.4kV,脈沖寬度為5ns。

  實(shí)例2:PASD法檢測與定位絕緣破裂

  圖3(a)顯示了一根100英尺長(cháng)的雙絞線(xiàn)中63.3英尺處具有0.5mm的裂口缺陷,應用PASD技術(shù)檢測的波形如圖3(b)所示。

圖3(a)  雙絞線(xiàn)中的裂口缺陷

圖3(b)  PASD檢測波形

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  應用PASD技術(shù)可以很容易地診斷和定位到雙絞線(xiàn)中的缺陷,缺陷特征非常清晰。電纜總傳輸時(shí)間為276ns,在182ns處波形開(kāi)始分離即為缺陷點(diǎn)處。脈沖在電纜中傳播速度為2.76ns/ft,因脈沖寬度引起的傳播延遲時(shí)間校正值取9ns??梢杂嬎愕玫饺毕蔹c(diǎn)的位置:

  實(shí)例3:PASD法檢測與定位結構上的微小裂縫

  圖4(a) 中缺陷位于10英尺長(cháng)導線(xiàn)的5英尺8英寸處。應該注意到此缺陷為一個(gè)非常小尺寸的缺陷,一般反射技術(shù)無(wú)法檢測到。

圖4(a)  導線(xiàn)上的缺陷

  圖4(b)顯示了PASD診斷波形,缺陷點(diǎn)可以很清楚地辨別。低電壓阻抗基線(xiàn)的波形與高電壓波形在26.8ns處相分離,因此可以計算得到該微小裂縫的位置:

圖4(b)  PASD診斷波形

  結語(yǔ)

  商業(yè)航天器、飛機的配線(xiàn)系統的多對雙絞線(xiàn)被周期性的節點(diǎn)和系帶捆綁在一起,這就造成了沿導線(xiàn)長(cháng)度方向的高度不均勻阻抗特性。絕緣缺陷本身可能比較小,卻造成了缺陷點(diǎn)處阻抗的不可估量的改變,這些特性往往讓阻抗測量或傳統的時(shí)域反射(TDR)方法顯得無(wú)效。其他的方法如局部放電法或直流擊穿技術(shù),或許可以檢測到一些類(lèi)型的絕緣缺陷,但不能對復雜阻抗配線(xiàn)系統進(jìn)行定位。

  PASD在檢測和定位復雜多樣的絕緣缺陷,如復雜配線(xiàn)系統中的絕緣破裂、表面磨損和結構上的微小裂縫等都是非常有效且準確的。它完全不受導線(xiàn)阻抗變化的影響,這一性能在航天器配線(xiàn)系統中非常重要,同時(shí)它對電纜主絕緣也是非破壞性的。由于PASD法設計概念新穎而簡(jiǎn)單,低能量的PASD脈沖發(fā)生器和檢測定位裝置很容易地裝入一個(gè)便攜式系統,輕便靈活。盡管這種方法還有待于進(jìn)一步發(fā)展成熟,但如果能將其應用到復雜配線(xiàn)系統,尤其是航天器、飛行器的配線(xiàn)系統,將對潛在的絕緣缺陷的診斷和定位帶來(lái)極大的方便。

  參考文獻:

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  2. M. A. Dinallo and L. X. Schneider, “Pulsed arrested spark discharge (PASD) diagnostic technique for the location of defects in aging wiring systems,” Sandia National Laboratories Report, SAND2001-3225, Oct. 2001.

  3. L. X Schneider and R. K. Howard, “Pulsed arrested spark discharge (PASD) wiring diagnostic”, in 8th Joint FAA/DoD/NASA Conf. Aging Aircraft, Feb. 2, 2005.

  4. S. F. Glover, M. B.Higgins, G. E. Pena, and L. X. Schneider, “Assessment of the non-destructive nature of PASD on wire insulation integrity,” Sandia National Laboratories Report, SAND2003-3430, Sep. 2003.

  5. Howard, R. Kevin, Schneider, L. X, Dinallo, M.A., Pena, G.E., “Assessment of the Ability of PASD to Located Defects in Typical Commercial Aircraft Wiring”,SAND2005-2290.

  6. 張舒、師奕兵、劉科,時(shí)域反射測量技術(shù)在網(wǎng)絡(luò )故障檢測中的應用,中國測試技術(shù),2005,31(5):40-41,62

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