R&S發(fā)布用于復雜電子電路測試的嶄新測試模塊 TS-PHDT

借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進(jìn)行大量數據運算的領(lǐng)域，快速數字功能性測試也可以實(shí)現。全新的高速數字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達40MHz的數據速率以及1.5GB的存儲容量。測試電子組件所需要的激勵信號、期望值以及實(shí)測值都可以存儲在本地。由于模塊內部能實(shí)時(shí)對比實(shí)測值與期望值，記錄的測試數據不再需要傳送到系統控制器，因此節約了大量的測試時(shí)間。

R&S TS PHDT，這個(gè)小巧的測試模塊是由羅德與施瓦茨公司和Atmel（半導體生產(chǎn)商的領(lǐng)導者之一）的射頻與汽車(chē)業(yè)務(wù)部緊密合作共同開(kāi)發(fā)的；是專(zhuān)為電子組件日趨復雜的數字電路的功能測試而設計的。另外，測試與測量儀器也必須滿(mǎn)足當前技術(shù)對記憶深度、實(shí)時(shí)性以及等級編程的需求。而R&S TS PHDT則是市場(chǎng)上第一款基于PXI的滿(mǎn)足此類(lèi)應用的解決方案。 

在功能測試的初始化時(shí)，首先，針對該被測件（DUT）的所有激勵信號的參數以及期望值都被一次性的傳送到測試模塊內部1.5GB的存儲介質(zhì)上（3