單片機開(kāi)發(fā)中應掌握的幾個(gè)基本技巧

一、 如何提高C語(yǔ)言編程代碼的效率

鄧宏杰指出，用C語(yǔ)言進(jìn)行單片機程序設計是單片機開(kāi)發(fā)與應用的必然趨勢。他強調：“如果使用C編程時(shí)，要達到最高的效率，最好熟悉所使用的C編譯器。先試驗一下每條C語(yǔ)言編譯以后對應的匯編語(yǔ)言的語(yǔ)句行數，這樣就可以很明確的知道效率。在今后編程的時(shí)候，使用編譯效率最高的語(yǔ)句?！?/P>

他指出，各家的C編譯器都會(huì )有一定的差異，故編譯效率也會(huì )有所不同，優(yōu)秀的嵌入式系統C編譯器代碼長(cháng)度和執行時(shí)間僅比以匯編語(yǔ)言編寫(xiě)的同樣功能程度長(cháng)5-20％。他說(shuō)：“對于復雜而開(kāi)發(fā)時(shí)間緊的項目時(shí)，可以采用C語(yǔ)言，但前提是要求你對該MCU系統的C語(yǔ)言和C編譯器非常熟悉，特別要注意該C編譯系統所能支持的數據類(lèi)型和算法。雖然C語(yǔ)言是最普遍的一種高級語(yǔ)言，但由于不同的MCU廠(chǎng)家其C語(yǔ)言編譯系統是有所差別的，特別是在一些特殊功能模塊的操作上。所以如果對這些特性不了解，那么調試起來(lái)問(wèn)題就會(huì )很多，反而導致執行效率低于匯編語(yǔ)言?！?/P>

二、 如何減少程序中的bug？

對于如何減少程序的bug，鄧宏杰給出了一些建議，他指出系統運行中應考慮的超范圍管理參數有：

1．物理參數。這些參數主要是系統的輸入參數，它包括激勵參數、采集處理中的運行參數和處理結束的結果參數。合理設定這些邊界，將超出邊界的參數都視為非正常激勵或非正?；貞M(jìn)行出錯處理。

2．資源參數。這些參數主要是系統中的電路、器件、功能單元的資源，如記憶體容量、存儲單元長(cháng)度、堆疊深度。在程式設計中，對資源參數不允許超范圍使用。

3．應用參數。這些應用參數常表現為一些單片機、功能單元的應用條件。如E2PROM的擦寫(xiě)次數與資料存儲時(shí)間等應用參數界限。

4．過(guò)程參數。指系統運行中的有序變化的參數。

三、如何解決單片機的抗干擾性問(wèn)題

鄧宏杰指出：防止干擾最有效的方法是去除干擾源、隔斷干擾路徑，但往往很難做到，所以只能看單片機抗干擾能力夠不夠強了。單片機干擾最常見(jiàn)的現象就是復位；至于程序跑飛，其實(shí)也可以用軟件陷阱和看門(mén)狗將程序拉回到復位狀態(tài)；所以單片機軟件抗干擾最重要的是處理好復位狀態(tài)。

一般單片機都會(huì )有一些標志寄存器，可以用來(lái)判斷復位原因；另外你也可以自己在RAM中埋一些標志。在每次程序復位時(shí)，通過(guò)判斷這些標志，可以判斷出不同的復位原因；還可以根據不同的標志直接跳到相應的程序。這樣可以使程序運行有連續性，用戶(hù)在使用時(shí)也不會(huì )察覺(jué)到程序被重新復位過(guò)。

四、 如何測試單片機系統的可*性

有讀者希望了解用用什么方法來(lái)測試單片機系統的可*性，鄧宏杰指出：“當一個(gè)單片機系統設計完成，對于不同的單片機系統產(chǎn)品會(huì )有不同的測試項目和方法，但是有一些是必須測試的：

1．測試單片機軟件功能的完善性。這是針對所有單片機系統功能的測試，測試軟件是否寫(xiě)的正確完整。

2．上電、掉電測試。在使用中用戶(hù)必然會(huì )遇到上電和掉電的情況，可以進(jìn)行多次開(kāi)關(guān)電源，測試單片機系統的可*性。

3．老化測試。測試長(cháng)時(shí)間工作情況下，單片機系統的可*性。必要的話(huà)可以放置在高溫，高壓以及強電磁干擾的環(huán)境下測試。

4、ESD和EFT等測試?？梢允褂酶鞣N干擾模擬器來(lái)測試單片機系統的可*性。例如使用靜電模擬器測試單片機系統的抗靜電ESD能力；使用突波雜訊模擬器進(jìn)行快速脈沖抗干擾EFT測試等等。

鄧宏杰強調：“還可以模擬人為使用中，可能發(fā)生的破壞情況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機系統的接觸端口，由此測試抗靜電的能力。用大功率電鉆*近單片機系統工作，由此測試抗電磁干擾能力等?！?/P>