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rSRAM消除“軟錯誤”對電子系統的威脅
作者：eaw
時(shí)間：2005-04-28
來(lái)源：eaw
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意法半導體(ST)公布的一項新技術(shù)rSRAM，完全可以消除近年來(lái)不斷困擾電子設備制造商的 “軟錯誤”難題。由于該技術(shù)對標準SRAM存儲單元的改進(jìn)方法是在單元結構內以垂直方式增裝附加電容器，因此，芯片面積以及制造成本都不會(huì )受到較大的影響。www.st.com
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