新型光學(xué)觸摸屏的實(shí)現

　　求出的A_i(i=1，2，…，5)存在誤差，需要進(jìn)一步優(yōu)化。設第i幅圖 17個(gè)點(diǎn)的像素數誤差之和為ε_i。對于每一幅圖，把第一幅圖對應的內參數矩陣A₁和該幅圖中點(diǎn)的相應坐標帶入式(2-4)求取ε_i，其表達式如下：

　　在對五幅圖的Rt_i 的參數r_i、t_i1、t_i2 進(jìn)行最優(yōu)化之后，設 5幅圖的所有點(diǎn)的像素數誤差加之和為ε，其表達式如下：

　　2.3.2 畸變參數的求取

　　求取畸變參數最優(yōu)解也用Levenberg-Marquardt優(yōu)化方法，本文畸變參數的求取僅僅考慮了徑向畸變，選取的徑向畸變的數學(xué)模型為：

　　φ =k₁ r+k₂ r³+k₃ r⁵   (2-7)

　　其中r=|u_d| 為像點(diǎn)到圖像中心的距離，k₁ 、k₂ 、k₃為徑向畸變系數，仍然用這五幅圖的數據求取最優(yōu)的 k₁ 、k₂ 、k₃。設第i(i=1，2，…，5)幅圖


　　3 結論

　　實(shí)現的新型光學(xué)觸摸屏能夠克服目前市售觸摸屏存在的設計缺陷，解決了存在觸摸死區和假兩點(diǎn)等問(wèn)題。提出了求取攝像頭內參數的方法，該方法簡(jiǎn)單易行，操作性強。求取內參數的過(guò)程中多次Levenberg-Marquardt優(yōu)化，Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法的優(yōu)越性決定了所求參數的高精確度。

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