TD-LTE芯片的射頻性能測試完成

全球領(lǐng)先的測試設備制造商—安捷倫科技有限公司（NYSE：A）與TD-LTE芯片制造商—創(chuàng )毅視訊日前宣布，雙方已合作完成TD-LTE的數據卡射頻性能的測試。本測試參考3GPPLTE規范及創(chuàng )毅視訊測試需求，基于安捷倫的N5182A信號發(fā)生器及N9020A信號分析儀平臺完成。本次聯(lián)合測試遵循3GPP標準規定的第六章及第七章的芯片發(fā)射機及接收機的測試規范，這也是兩家公司一次成功的合作。

安捷倫科技中國區總經(jīng)理蘭濤提到：“安捷倫作為全球領(lǐng)先的測試設備制造商，一直致力于提供TD-SCDMA及TD-LTE的測試方案，安捷倫將與創(chuàng )毅視訊一起合作開(kāi)發(fā)TD-LTE測試系統。在中國部署下一代移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò )的過(guò)程中，安捷倫將扮演重要的角色，為中國移動(dòng)通信事業(yè)做貢獻。”

創(chuàng )毅視訊的CEO張輝說(shuō)：“創(chuàng )毅視訊作為T(mén)D-LTE業(yè)界率先推出基帶處理芯片和數據卡解決方案的中國公司，與安捷倫共同完成的聯(lián)合測試，具有里程碑的意義，這次合作也幫助我們完成對芯片的性能指標驗證。”

安捷倫的MXA，MXG及PXB系列信號分析儀，信號發(fā)生器及信道仿真儀可以支持最新的TDD/FDD-LTE標準測試，同時(shí)，X系列平臺還能支持多達20種以上的無(wú)線(xiàn)標準的測試，具體可參見(jiàn)www.agilent.com/find/X-series。

下一代無(wú)線(xiàn)通信技術(shù)，簡(jiǎn)稱(chēng)LTE，有時(shí)分復用TDD及頻分復用FDD兩個(gè)版本，TD-LTE將在在全球得到廣泛的部署。安捷倫為T(mén)DD和FDD兩種最新的無(wú)線(xiàn)制式提供了完整的測試解決方案。