交錯式ADC之間的帶寬失配

交錯式ADC之間的帶寬失配應該是對于設計師而言最難解決的失配問(wèn)題。 如圖1所示，帶寬失配具有增益和相位/頻率分量。 這使得解決帶寬失配問(wèn)題變得更為困難，因為它含有兩個(gè)來(lái)自其他失配參數的分量：增益和時(shí)序失配。

圖1 帶寬失配

然而，在帶寬失配中，可在不同的頻率下看到不同增益值。 此外，帶寬具有時(shí)序分量，使不同頻率下的信號通過(guò)每個(gè)轉換器時(shí)具有不同的延遲。 最大程度降低帶寬失配的最好辦法，是極為出色地進(jìn)行電路設計并完成布局布線(xiàn)實(shí)踐，這樣可以最大程度降低ADC之間的帶寬失配。 ADC之間的匹配越好，則產(chǎn)生的雜散就越少。

由于增益和時(shí)序隨頻率變化而發(fā)生改變，任何試圖校準誤差的算法種類(lèi)都極為復雜。 這樣可能會(huì )過(guò)多地增加電路和面積開(kāi)銷(xiāo)，從而抵消校準的優(yōu)勢。 因此，正確的布局技術(shù)有助于減少這類(lèi)失配，并充分考慮到其他類(lèi)型的失配（失調、增益和時(shí)序），對交錯雜散也有很大的影響。

交錯式ADC中有四個(gè)主要失配包括帶寬失配、失調失配、增益失配與時(shí)序失配，而這些失配也有些許共同之處。 四個(gè)失配中有三個(gè)會(huì )在fS/2 ± fin的輸出頻譜中產(chǎn)生雜散。 輕易就能識別出失調失配雜散，因為只有它位于fS/2，并可十分方便地對其進(jìn)行補償。 增益、時(shí)序和帶寬失配都會(huì )在輸出頻譜的fS/2 ± fin中產(chǎn)生雜散；因此，隨之而來(lái)的問(wèn)題是：如何識別它們各自的影響？ 圖2以簡(jiǎn)單的圖形方式指導如何從交錯式ADC的不同失配中識別雜散來(lái)源。

圖2 交錯式失配的相互關(guān)系

失調失配產(chǎn)生的雜散在fS/2處隔離。相對來(lái)說(shuō)，它比較容易定位和識別。 如果只是考察增益失配，那么它就是一個(gè)低頻（或直流）類(lèi)型的失配。 可將帶寬失配的增益分量與增益失配相分離，方法是在直流附近執行低頻增益測量，然后在較高的頻率處執行增益測量。 增益失配與頻率無(wú)函數關(guān)系，而帶寬失配的增益分量與頻率呈函數關(guān)系。

對于時(shí)序失配，可以采用類(lèi)似的方法。 在直流附近執行低頻測量，然后在較高的頻率下執行后續測量，以便將帶寬失配的時(shí)序分量與時(shí)序失配分離。