應用于教學(xué)方案的USB 模塊化儀器的研究
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在物理學(xué)和微電子學(xué)實(shí)驗室中，要向學(xué)生講授各種分立元件，如 BJT 晶體管、二極管、小信號 JFET 和MOSFET晶體管，以及齊納二極管的功能。學(xué)生通過(guò)這些基本元件測量所獲得的基礎知識，將使學(xué)生能進(jìn)而學(xué)會(huì )如何設計、裝配和使用基本電子電路。Agilent U2941A參數測試夾具是U2722A USB模塊化源∕測量單元的補充，能使學(xué)生更多測試和掌握這些元件的特性。
圖 2，Agilent U2941A 參數測試夾具與 U2722A USB 模塊化源∕測量單元一起測試基本分立元件
在控制實(shí)驗室中，Agilent USB DAQ和VEE軟件可用于實(shí)現組合的前饋和反饋控制。這種控制通常用于改善可測干擾存在時(shí)的控制系統性能。反饋控制的目的是跟蹤參考，前饋控制的目的是在干擾能夠影響過(guò)程變化前抑制干擾。前饋控制的長(cháng)處在于它的預測特性，在干擾進(jìn)入系統前先改變至系統的系統控制信號，從而抑制對系統的干擾。這是基于對干擾性質(zhì)和系統本身的認識，從而通過(guò)采取精確行動(dòng)消除逼近的不利影響。因此必須有實(shí)現前饋控制的干擾和系統模型。模型越精確，前饋控制對干擾的抑制就越有效。在工業(yè)界，實(shí)現前饋控制的好處在于干擾剛剛產(chǎn)生時(shí)，就能避免部分批次產(chǎn)品的經(jīng)濟損失，因為此時(shí)尚未有常規的反饋控制。工業(yè)中為得到最好效果，總是把前饋控制與反饋控制一起使用。
教育部門(mén)一個(gè)發(fā)展中的趨勢是通過(guò)減小儀器的體積鼓勵學(xué)生借出基礎測量?jì)x器。這樣，高年級學(xué)生就可為他們的系統測量項目組合使用各種適宜的基礎測量?jì)x器。雖然傳統臺式儀器能進(jìn)行精確的測量，但當學(xué)生要確保項目按計劃進(jìn)行時(shí)，卻只能被禁錮在實(shí)驗室中。這是對傳統臺式測試儀器的挑戰。Agilent USB模塊化儀器的便攜性已引起教育工作者的極大興趣，因為它能讓學(xué)生方便地攜帶儀器離開(kāi)實(shí)驗室，在項目完成所需的任何地點(diǎn)工作。Agilent 是模塊化儀器的主要制造商，它有 USB 形式模塊化基礎測量?jì)x器的完整產(chǎn)品線(xiàn)。其它品種的模塊化儀器包括數字萬(wàn)用表、函數發(fā)生器、源∕測量單元和開(kāi)關(guān)矩陣。
圖 3，您能從 Agilent USB 模塊化儀器“庫”容易地選擇符合項目要求的儀器
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