高性能接觸電阻測試系統

　　圖 2，利用共用端子測量32個(gè)觸點(diǎn)

　　在有些情況下，可能需要以獨特的串聯(lián)方式將開(kāi)關(guān)的數量減少一半，如圖 2所示。在本例中，所有的接片都被串聯(lián)在一起，每個(gè)底座均被連接到一個(gè)雙刀開(kāi)關(guān)。在這種情況下，帶有7701型低電壓32通道差分多路選通模塊的2750型多用表/開(kāi)關(guān)系統可測試32個(gè)觸點(diǎn)。利用2750型主機中的5塊7701型模塊，可測試最多160個(gè)觸點(diǎn)。

　　圖3所示為一個(gè)高性能接觸電阻系統，能夠以相當小的電流（100 μA）測量非常低的電阻（μΩ）。在該系統中，2400型源表輸出測試電流，2182A型納伏表測量每個(gè)觸點(diǎn)上的壓降。2182A和2400均通過(guò)7011型40通道多路選通卡切換至每個(gè)觸點(diǎn)。2400型提供了一個(gè)可編程的電壓跟隨限值，所以系統能夠確保干電路測試條件。

　　圖3，高性能接觸電阻測試系統

　　一塊7011型開(kāi)關(guān)卡和一個(gè)7001型開(kāi)關(guān)主機可切換20個(gè)觸點(diǎn)。7011型開(kāi)關(guān)卡被配置為兩組20通道。利用主機的4到開(kāi)關(guān)模式，兩組繼電器可被同時(shí)打開(kāi)或閉合。