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應用METROTOM斷層掃描測量技術(shù)優(yōu)化試模進(jìn)程
作者：
時(shí)間：2013-10-09
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò )
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METROTOM系統
德國蔡司新一代的CT測量系統已在全球全面推廣并得以廣泛使用。鑒于其技術(shù)革新性，由此誕生 “METROTOMOGRAPHY” 這樣一個(gè)新詞類(lèi)以準確闡述此高科技新技術(shù)。METROTOM系統由德國蔡司工業(yè)測量部門(mén)負責提供全面的的設計方案，包括高性能CMM的技術(shù)，如精密導軌、驅動(dòng)系統、控制系統、超高精密轉臺及工業(yè)領(lǐng)域中處于領(lǐng)先的Calypso通用測量軟件平臺，這將賦予此系統具有：
◆ 最重要是：絕佳的測量精度 — 對于典型的塑件而言其測量精度可于9微米起。
◆ 測量結果具有極佳的重復性 — METROTOM系統將通過(guò)重復再現性(GRR)測試。
◆ 配備的軟件平臺可全面實(shí)現ANSI Y14.5/ISO GDT形位公差測量及評定。
◆ 于60分鐘內即可完成掃描 — 如若樣品體積足夠小(如各類(lèi)醫療塑料部件)，每次甚至可掃描不止一個(gè)組件。
◆ 此掃描過(guò)程為非破壞性，掃描完成后即可取回樣品，且您的樣品完整無(wú)缺。
典型應用
基于X射線(xiàn)原理，樣品內部及外部結構皆可實(shí)現最佳的可視化效果。通過(guò)對整個(gè)工件進(jìn)行一次掃描，可精確快速獲取百分之一百的特征信息量，而更重要的是，這些信息可廣泛應用于：
◆ 樣件與CAD模型之間的數模比對。
◆ 缺陷分析：孔隙率及定性定量分析。
◆ 裝配檢測：內部裝配狀態(tài)分析。
◆ 逆向工程：生成STL以用于CAD數據的后續處理。
◆ 基于數模對比的快速修模。
◆ 高精度三維幾何量尺寸測量技術(shù)。
案例分析：
將樣品置于旋轉工作臺面，經(jīng)過(guò)精確回轉運動(dòng)后(30-60分鐘)即可生成完整的三維數據。CT三維體元數據與CAD模型最初具有不同的坐標原點(diǎn)并位于不同的空間位置。
與傳統工業(yè)CT系統所不同的是，該系統無(wú)傳統數據處理及縮放等誤差，無(wú)論如何 METROTOM系統均可提供9+L/50微米起的MPE-E(測量誤差)，其優(yōu)異的測量性能表現涵蓋了工件內外的特征元素。MPE-E是ISO國際標準對于幾何量測量中“最大允許示值誤差”的首字母縮寫(xiě)，并用于描述可追溯的系統測量誤差(精度)。
Calypso測量軟件平臺使用專(zhuān)業(yè)的數學(xué)參考系(DRF)以快速找正CAD模型數據(圖2)。一旦找正完成即實(shí)現測量數據與CAD模型的完美重疊，CT三維體元數據集即成為CAD表面的“邊界”，其揭示了樣件的基本幾何形狀。此形象逼真的圖像效果可幫助工程師快速確定小塑料件的特征元素，通常此類(lèi)塑料件由于其尺寸的原因，通?？赡鼙缓鲆?。 
Calypso軟件平臺的特點(diǎn)在于不基于STL數據文件進(jìn)行測量 — STL格式傳統上主要用于可視化方面的應用，但不可對部件的三維幾何量尺寸進(jìn)行精確的定義。然而，Calypso軟件可基于原有的CT三維體元圖像進(jìn)行直接高精度測量。
一旦數據集與CAD模型找正完成，數模分析即可開(kāi)始進(jìn)行，圖像化(通過(guò)顏色漸變)顯示所有的內部與外部表面相對于CAD模型的偏差狀態(tài)，甚至可觀(guān)察部件內部更為深入隱藏之位置，無(wú)損分析軟件工具可由任意方向對塑件進(jìn)行剖面分析。該剖切工具亦可揭示材料內部的氣孔分布。
塑件的掃描及分析可于數小時(shí)內完成，通常偏差色譜分析圖有助于產(chǎn)品質(zhì)量的快速分析，但您如真正需要的是一個(gè)完整的首件測量報告，即可借助于Calypso測量軟件平臺強大的功能，提供深入剖切可視化工具實(shí)現快速離線(xiàn)測量方案編制，舉例來(lái)說(shuō)，諸如此類(lèi)流體閥門(mén)塑料部件。通過(guò)強大的幾何量尺寸及形位公差(GDT)數學(xué)運算引擎，Calypso測量軟件平臺可處理計算所有的尺寸特征并提供多樣化格式的檢測報告。圖3所示為Excel格式的測量報表，而圖4則為箭頭指向被測特征元素的測量值可視化形象報告，測量報告不僅可以顏色顯示測量值是合格亦或超差，同時(shí)可顯示此測量值占對應公差的百分比。 
METROTOMOGRAPHY：須關(guān)注的幾點(diǎn)
精度：分辨率與測量精度并非同一概念 — 此尤為重要，例如高的分辨率從來(lái)不可補償機械系統的精度，關(guān)鍵在于此系統如用于測量之結果則必須符合對應的國際標準，可要求設備制造商向您說(shuō)明他們的X線(xiàn)斷層掃描系統的測量精度如何。
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