鑒別IC芯片質(zhì)量好壞的五大方法

(5)ｉｃ引腳電壓會(huì )受外圍元器件影響。當外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì )使引腳電壓發(fā)生變化。

(6)若ｉｃ各引腳電壓正常，則一般認為ｉｃ正常；若ｉｃ部分引腳電壓異常，則應從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無(wú)故障，若無(wú)故障，則ｉｃ很可能損壞。

(7)對于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機，在有無(wú)信號時(shí)，ｉｃ各引腳電壓是不同的。如發(fā)現引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ｉｃ損壞

(8)對于多種工作方式的裝置，如錄像機，在不同工作方式下，ｉｃ各引腳電壓也是不同的。

4．交流工作電壓測量法

為了掌握ｉｃ交流信號的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬(wàn)用表對ｉｃ的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。檢測時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對于無(wú)ｄｂ插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只０．１～０．５μｆ隔直電容。該法適用于工作頻率 較低的ｉｃ，如電視機的視頻放大級、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的數據是近似值，只能供參考。

5．總電流測量法

該法是通過(guò)檢測ｉｃ電源進(jìn)線(xiàn)的總電流，來(lái)判ｉｃ好壞的一種方法。由于ｉｃ內部絕大多數為直接耦合，ｉｃ損壞時(shí)（如某一個(gè)ｐｎ結擊穿或開(kāi)路）會(huì )引起后級飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測量總電流的方法可以判 ｉｃ的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。