單片機系統中RAM的測試方法研究

在各種單片機應用系統中，存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統的正常工作。為了提高系統的可靠性，對系統的可靠性進(jìn)行測試是十分必要的。通過(guò)測試可以有效地發(fā)現并解決因存儲器發(fā)生故障對系統帶來(lái)的破壞問(wèn)題。本文針對性地介紹了幾種常用的單片機系統RAM測試方法，并在其基礎上提出了一種基于種子和逐位倒轉的RAM故障測試方法。

1 RAM測試方法回顧

(1)方法1

參考文獻中給出了一種測試系統RAM的方法。該方法是分兩步來(lái)檢查，先后向整個(gè)數據區送入#00H和#FFH，再先后讀出進(jìn)行比較，若不一樣，則說(shuō)明出錯。

(2)方法2

方法1并不能完全檢查出RAM的錯誤，在參考文獻中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測的標準算法MARCH—G。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率，但是所需要的測試時(shí)間是很大的。MARCH—G算法需要對全地址空間遍歷3次。設地址線(xiàn)為”根，則CPU需對RAM訪(fǎng)問(wèn)6×2n次。

(3)方法3

參考文獻中給出了一種通過(guò)地址信號移位來(lái)完成測試的方法。在地址信號為全O的基礎上，每次只使地址線(xiàn)Ai的信號取反一次，同時(shí)保持其他非檢測地址線(xiàn)Aj(i≠j)的信號維持0不變，這樣從低位向高位逐位進(jìn)行；接著(zhù)在地址信號為全1的基礎上，每次只使地址線(xiàn)Ai的信號取反一次，同時(shí)保持其他非檢測地址線(xiàn)Aj(i≠j)的信號維持1不變，同樣從低位向高位逐位進(jìn)行。因此地址信號的移位其實(shí)就是按照2K(K為整數，最大值為地址總線(xiàn)的寬度)非線(xiàn)性尋址，整個(gè)所需的地址范圍可以看成是以全0和全1為背景再通過(guò)移位產(chǎn)生的。在地址變化的同時(shí)給相應的存儲單元寫(xiě)入不同的偽隨機數據。在以上的寫(xiě)單元操作完成后，再倒序地將地址信號移位讀出所寫(xiě)入的偽隨機數據并進(jìn)行檢測。設地址線(xiàn)為n根，則CPU只對系統RAM中的2n+2個(gè)存儲單元進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)。