EDA環(huán)境銜接測量軟件　電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期大幅縮短（一）

消費性電子產(chǎn)品汰換周期越來(lái)越短，且功能復雜度不斷提高，使得系統研發(fā)人員面臨縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間的嚴峻挑戰。所幸，現今自動(dòng)化測試系統已開(kāi)始導入開(kāi)放式FPGA，將有助EDA開(kāi)發(fā)環(huán)境與測量軟件的整合，讓工程師可同時(shí)進(jìn)行系統設計與測試，加快研發(fā)時(shí)程。

　　目前測試工程師所面臨的最大挑戰之一，即是個(gè)人觀(guān)念局限于目前的技術(shù)中而停滯不前，因此，本文特別提供技術(shù)趨勢的相關(guān)知識，針對測試與測量產(chǎn)業(yè)，探討足以影響整個(gè)產(chǎn)業(yè)的重要技術(shù)與方法。

　　設計與測試并行為大勢所趨

　　對目前的研發(fā)單位來(lái)說(shuō)，縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期幾乎是首要任務(wù)，特別是汽車(chē)與航空產(chǎn)業(yè)。要縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間的方法之一，就是同時(shí)進(jìn)行設計與測試，這樣的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)模式常以“V-diagram”模型（圖1）表示。這些產(chǎn)業(yè)的最終產(chǎn)品，往往形成高復雜度“系統中的系統”；而V-diagram左邊為“設計”，右邊則為“測試”，其背后的概念，就是在開(kāi)發(fā)出完整系統之前，先初步測試、檢驗子系統以達更高效率。只要是需要高度監控環(huán)境的產(chǎn)業(yè)，就常見(jiàn)到如V-diagram 的同步設計/測試方法，而且目前已有其他類(lèi)型的裝置或產(chǎn)業(yè)逐步采用相關(guān)實(shí)例。以半導體和消費性電子產(chǎn)業(yè)為例，其“短暫的產(chǎn)品使用周期”與“不斷提高的產(chǎn)品復雜度”特性，都是縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間的瓶頸。

　　圖1 V-diagram產(chǎn)品開(kāi)發(fā)模型

　　根據2009年麥肯錫（McKinsey）針對半導體產(chǎn)業(yè)設計的問(wèn)卷研究結果，半導體產(chǎn)業(yè)“產(chǎn)品生命周期”幾乎是汽車(chē)產(chǎn)業(yè)的叁分之一而已。另一份麥肯錫問(wèn)卷研究亦指出，半導體新產(chǎn)品設計的平均開(kāi)發(fā)時(shí)間約為19個(gè)月，因此，研究人員歸納出“研發(fā)完整度（RD Excellence）”為加速開(kāi)發(fā)時(shí)程的主要關(guān)鍵。

　　基于商業(yè)需求，產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程必須更重視研發(fā)完整度，因此電子產(chǎn)業(yè)已越來(lái)越趨向設計與測試并行。要強化此實(shí)例的主要方式，就是提高電子設計自動(dòng)化（EDA）模擬軟件與測試軟件之間的連結。

　　提高EDA/測試軟件連結

　　若要了解模擬軟件在產(chǎn)品設計流程中的角色，必須先了解軟件在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的“設計”與“測試”階段有何作用。在初始的設計/模擬期間，EDA軟件可針對模擬產(chǎn)品的物理或電子行為（Electrical Behavior）建立模型（圖2）。EDA軟件基本上屬于公用程式，即根據一系列的輸入，透過(guò)數學(xué)模型而呈現受測物（DUT）的輸出，再將相關(guān)度量結果提供予設計工程師。

　　圖2 軟件于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段所扮演的角色

　　在開(kāi)發(fā)產(chǎn)品的檢驗/認證階段，軟件使用條件僅有些許不同，主要是能自動(dòng)測量實(shí)際的塬型即可。但檢驗/認證階段所需的測量演算法，亦與EDA軟件工具所使用的演算法相同，這點(diǎn)則和設計/模擬階段類(lèi)似。

　　目前EDA軟件正在發(fā)展中的功能，就是要于EDA環(huán)境與測試軟件之間，提高軟件連結功能的層級。更進(jìn)一步解釋?zhuān)@種連結功能就是要讓現有的EDA軟件環(huán)境可驅動(dòng)測量軟件，并且測量自動(dòng)化環(huán)境可自動(dòng)連結EDA設計環(huán)境。

　　銜接設計與測試軟件環(huán)境的優(yōu)點(diǎn)之一，即于設計程序的初期，軟件即可提供更豐富的測量演算法。工程師不僅可于設計初期進(jìn)一步了解自己的設計，其模擬作業(yè)亦能整合檢驗/認證程序所取得的資料。第二項優(yōu)點(diǎn)，則是讓測試工程師在設計程序中，即可加速開(kāi)發(fā)有用的測試程序代碼，以利縮短復雜產(chǎn)品的上市時(shí)間。