DDR 的 PCB布局及走線(xiàn)要求
1. 定義
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202505/470077.htmDDR:Double Date Rate 雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機存儲器。
2. 阻抗控制要求
單端走線(xiàn)控制 50 歐姆,差分走線(xiàn)控制 100 歐姆
3. DDR 布局要求
通常,根據器件的擺放方式不同而選擇相應的拓撲結構。
A、DDR*1 片,一般采用點(diǎn)對點(diǎn)的布局方式,靠近主控,相對飛線(xiàn) Bank 對稱(chēng)。間距可以按照是實(shí)際要求進(jìn)行調整,推薦間距為 500-800mil。
B、DDR*2 片,布局相對主控飛線(xiàn) Bank 對稱(chēng),常采用 T 型拓撲結構, 推薦間距如下:
等長(cháng)要求 L1+L2=L1+L3
C、DDR*4 片,以下列出了常用的 4 片 DDR 布局拓撲結構。
針對于 DDR2,這些拓撲結構都是能適用的,只是有少許的差別。
若PCB布線(xiàn)空間允許,Address/Command、Control、CLK,應優(yōu)先采用單純的“T”型拓撲結構,并盡可能縮短分支線(xiàn)長(cháng)度,如上面拓撲結構的B圖所示。
等長(cháng)要求 L1+L2+L6=L1+L2+L7=L1+L3+L4=L1+L3+L5
然而,菊花鏈式拓撲結構被證明在 SI 方面是具有優(yōu)勢的。對于 DDR3 的設計, 特別是在 1600 Mbps 時(shí),則一般采用 D 所示菊花鏈拓撲結構進(jìn)行設計。
PCB 布線(xiàn)空間有限的,可以采用“T”型拓撲和菊蓮拓撲混合的結構,如下圖所示:
混合拓撲結構中“T”型拓撲的要求與兩片DDR2/3 相同。
等長(cháng)要求 L1+L3+L2=L1+L4+L5
4. 信號分組以及走線(xiàn)要求(以下以4片DDR3設計進(jìn)行說(shuō)明)
A、32條數據線(xiàn)(DATA0-DATA31)、4條DATAMASKS(DQM0-DQM3), 4對DATASTROBES差分線(xiàn)(DQS0P/ DQS0M—DQS3P/DQS3M)
這36條線(xiàn)和4對差分線(xiàn)分為四組:
再將剩下的信號線(xiàn)分為三類(lèi):
Address/Command 、Control與CLK歸為一組,因為它們都是以CLK的下降沿由DDR控制器輸出,DDR顆粒由CLK 的上升沿鎖存Address/Command、Control 總線(xiàn)上的狀態(tài),所以需要嚴格控制CLK 與Address/Command、Control 之間的時(shí)序關(guān)系,確保DDR顆粒能夠獲得足夠的、最佳的建立/保持時(shí)間。
B、誤差控制,差分對對內誤差盡量控制在5mil以?xún)?;數據線(xiàn)組內誤差盡量控制在+-25mil以?xún)?,組間誤差盡量控制在+-50mil以?xún)取?/span>
Address/Command 、Control全部參照時(shí)鐘進(jìn)行等長(cháng),誤差盡量控制在+-100mil 以?xún)取?/span>
C、數據線(xiàn)之間間距要滿(mǎn)足3W原則,控制線(xiàn)、地址線(xiàn)必要時(shí)可稍微放寬到2W~3W, 其他走線(xiàn)離時(shí)鐘線(xiàn)20mil或至少3W以上的間距,以減小信號傳輸的串擾問(wèn)題。
D、VERF電容需靠近管腳放置,VREF走線(xiàn)盡量短,且與任何數據線(xiàn)分開(kāi),保證其不受干擾(特別注意相鄰上下層的串擾),推薦走線(xiàn)寬度>=15mil。
E、DDR設計區域,這個(gè)區域請保障完整的參考平面,如下方圖片所示:
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