英國Pickering公司發(fā)布新款開(kāi)關(guān)保護模塊，面向半導體參數測試中的低漏電流測試

英國Pickering公司作為用于電子測試和驗證的模塊化信號切換和仿真解決方案的領(lǐng)先供應商，于近日推出新型低漏電流開(kāi)關(guān)解決方案，面向半導體測試，如WAT晶圓驗收測試中的低電流驅動(dòng)保護測量。新款產(chǎn)品基于開(kāi)關(guān)隨動(dòng)保護層(switched guard)設計原理，提供PXI, PXIe和LXI版本，整體設計確保隔離電阻高達1013Ω。

該產(chǎn)品系列包括三個(gè)系列，提供各種開(kāi)關(guān)拓撲結構。PXI模塊40-121系列提供兩種SPST通用開(kāi)關(guān)配置(13或26個(gè))或2:1(8或16組)多路復用開(kāi)關(guān)。PXI模塊40-590系列和PXIe模塊42-590系列，提供兩款矩陣開(kāi)關(guān)(8x4或16x4)。LXI模塊65-290系列，基于Pickering公司的2U LXI模塊化機箱(型號65-200)設計，最多可容納6個(gè)8x16或16x16矩陣開(kāi)關(guān)模塊。模塊從機箱的前部推入，便于后期擴展和維護。

為了確保測試系統未來(lái)的可擴展性，PXI/PXIe型號40/42-590和LXI型號65-290產(chǎn)品均擁有loop-thru拓展接口，其中矩陣規模大小可以通過(guò)使用符合標準的短電纜在機箱中互連相鄰模塊來(lái)擴展-PXI/PXI型號允許進(jìn)行X軸擴展，而LXI型號允許進(jìn)行X軸和Y軸擴展，可實(shí)現每個(gè)機箱高達 16x96 的矩陣大小，也可以通過(guò)簡(jiǎn)單的連接靈活擴展到其他機箱。同時(shí)每個(gè)PXI模塊只占用一個(gè)機箱槽位。如此小的槽位占用是通過(guò)使用高密度同軸連接器來(lái)實(shí)現的，以此實(shí)現低漏電流驅動(dòng)保護測量。PXI 40-121模塊采用多路MS-M連接器，所有52個(gè)引腳(SPST開(kāi)關(guān))分布在兩個(gè)連接器之間，大大加快了連接和斷開(kāi)的速度。40/42-590和65-290系列采用帶絕緣蓋的MMCX微型同軸連接器，提供緊湊的單端口，降低布線(xiàn)復雜性，從而達成使用loop-thru來(lái)簡(jiǎn)易地拓展矩陣規模的目的。

LXI型號65-200平臺還允許用戶(hù)加載預設置的測試序列，并通過(guò)軟件或硬件觸發(fā)器對它們進(jìn)行控制，與標準的軟件驅動(dòng)程序控制方式相比，節約了測試時(shí)間。這些測試序列存儲在本地LXI控制器上，減輕了主機CPU和以太網(wǎng)流量的負擔，最大限度地降低了整體系統延遲。這些功能將優(yōu)化半導體測試的體驗，因為在半導體測試中，每個(gè)被測設備可能需要測試數千次。

Pickering開(kāi)關(guān)產(chǎn)品經(jīng)理Steve Edwards表示：“本次所有產(chǎn)品均采用Pickering集團下專(zhuān)注于繼電器設計生產(chǎn)制造的Pickering Electronic公司定制生產(chǎn)的的高品質(zhì)鍍釕舌簧繼電器。這些開(kāi)關(guān)采用內部結構設計，可為新的開(kāi)關(guān)保護模塊提供必要的隔離度，以保證較長(cháng)的使用壽命。Pickering還提供標準和定制電纜解決方案，可以幫助將產(chǎn)品集成到用戶(hù)的測試系統中?！?/p>

英國 Pickering公司保證為所有產(chǎn)品提供標準的三年質(zhì)保和長(cháng)期的產(chǎn)品支持服務(wù)。