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半導體參數測試
半導體參數測試 文章 進(jìn)入半導體參數測試技術(shù)社區
英國Pickering公司發(fā)布新款開(kāi)關(guān)保護模塊，面向半導體參數測試中的低漏電流測試
- 英國Pickering公司作為用于電子測試和驗證的模塊化信號切換和仿真解決方案的領(lǐng)先供應商，于近日推出新型低漏電流開(kāi)關(guān)解決方案，面向半導體測試，如WAT晶圓驗收測試中的低電流驅動(dòng)保護測量。新款產(chǎn)品基于開(kāi)關(guān)隨動(dòng)保護層(switched guard)設計原理，提供PXI, PXIe和LXI版本，整體設計確保隔離電阻高達1013Ω。該產(chǎn)品系列包括三個(gè)系列，提供各種開(kāi)關(guān)拓撲結構。PXI模塊40-121系列提供兩種SPST通用開(kāi)關(guān)配置(13或26個(gè))或2:1(8或16組)多路復用開(kāi)關(guān)。PXI模塊40-590系列和P
- 關(guān)鍵字： Pickering 開(kāi)關(guān)保護模塊 半導體參數測試 低漏電流測試
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半導體參數測試介紹
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