泰克推出基于示波器的雙脈沖測試解決方案, 加快SiC和GaN技術(shù)驗證速度
中國北京,2023年5月31日—— 全球領(lǐng)先的測試測量解決方案提供商泰克科技公司日前宣布,推出最新雙脈沖測試解決方案 (WBG-DPT解決方案)。各種新型寬禁帶開(kāi)關(guān)器件正推動(dòng)電動(dòng)汽車(chē)、太陽(yáng)能、工控等領(lǐng)域快速發(fā)展,泰克WBG-DPT解決方案能夠對寬禁帶器件(如SiC和GaN MOSFETs)提供自動(dòng)可重復的、高精度測量功能。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202305/447190.htm下一代功率轉換器設計師現在能夠利用WBG-DPT解決方案,滿(mǎn)懷信心地迅速優(yōu)化自己的設計。WBG-DPT解決方案能夠在泰克4系、5系、6系MSO示波器上運行,并能夠無(wú)縫集成到示波器測量系統中,擁有多種業(yè)界領(lǐng)先的測量功能,如自動(dòng)校正WBG時(shí)延技術(shù)、反向恢復定時(shí)繪圖,工程師可以更簡(jiǎn)便地查看疊加一個(gè)畫(huà)面上的多個(gè)脈沖的反向恢復細節。這些測量功能還滿(mǎn)足JEDEC和IEC雙脈沖測試和二級管反向恢復標準。
泰克科技公司中端示波器產(chǎn)品組合方案總經(jīng)理Daryl Ellis說(shuō),
“泰克客戶(hù)都是下一代尖端功率電子技術(shù)的設計師,他們必須優(yōu)化設計,在效率、尺寸和可靠性之間找到一個(gè)平衡點(diǎn)。我們堅信,泰克WBG-DPT解決方案的設計將實(shí)現簡(jiǎn)化的可重復的測量(根據JEDEC和IEC標準),加快學(xué)習周期。測試自動(dòng)化縮短了測試時(shí)間和再測試錯誤,確??蛻?hù)滿(mǎn)足項目時(shí)間表和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期計劃?!?/span>
Qorvo公司員工系統工程師Masashi Nogawa說(shuō),
“在執行雙脈沖測試時(shí),WBG-DPT軟件可以瞬時(shí)測量主要參數,如EON、EOFF和QRR。該軟件可以使功率波形和標記以可視化方式立即顯示集成范圍,用來(lái)計算電源損耗。相比把波形數據導入Excel表格中處理,這提供了一個(gè)完美的替代方案?!?/span>
為實(shí)現有意義的電源損耗測量,設計師必須校正測試夾具和探頭引入的延遲。漏極到源極電壓(VDS)和漏極電流(ID)測量的傳統校準技術(shù)要求重新對測試設置布線(xiàn),并審慎地進(jìn)行預測試測量。
WBG-DPT解決方案的主要特點(diǎn):
WBG-DPT解決方案在業(yè)界率先提供WBG時(shí)延校正技術(shù),不需重新布線(xiàn),甚至可以在進(jìn)行雙脈沖測量后執行。為仿真時(shí)延在測試設置中的效果,該軟件生成了一個(gè)校準波形。工程師只需調節幾個(gè)設置,就能使校準波形與測得波形匹配,因為該軟件會(huì )校正任何時(shí)延差。這種新流程把時(shí)延校正時(shí)間從一小時(shí)縮短到5 – 10分鐘。
由于功率轉換器必須在各種條件下工作,所以業(yè)界越來(lái)越多地需要在不同結點(diǎn)溫度下測量輸出電荷(QOSS)。泰克WBG-DPT解決方案支持快速準確的QOSS測量功能,可以提供重要數據,了解器件輸出電容的影響。
泰克WBG-DPT解決方案在業(yè)界率先提供了反向恢復定時(shí)繪圖功能,工程師可以更簡(jiǎn)便地查看疊加在一個(gè)畫(huà)面上的多個(gè)脈沖的反向恢復細節。這些測量滿(mǎn)足JEDEC和IEC標準,用戶(hù)可以在WBG解決方案中配置測量,查詢(xún)雙脈沖集中第一個(gè)或第二個(gè)或所有脈沖的結果。這種獨特的反向恢復繪圖方法支持多個(gè)雙脈沖集,對每個(gè)集合提供可視的測量結果。這些測量在反向恢復區域可以簡(jiǎn)便縮放,甚至可以調試系統的反向恢復參數。
泰克寬禁帶雙脈沖測試解決方案現已在全球供貨。
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