MVG發(fā)布MiniLAB系統新功能 為在LTE設備上測量RSE提供了 全新方案

引領(lǐng)創(chuàng )新天線(xiàn)測試技術(shù)的系統生產(chǎn)廠(chǎng)商——法國

引領(lǐng)創(chuàng )新天線(xiàn)測試技術(shù)的系統生產(chǎn)廠(chǎng)商——法國Microwave Vision Group (以下簡(jiǎn)稱(chēng)MVG) 近日宣布在其備受業(yè)界歡迎的MiniLAB系統中集成了RSE和無(wú)源天線(xiàn)測量功能。MiniLAB系統現不僅可以進(jìn)行高準確度的OTA測試，還能提供無(wú)源測量，并為在LTE設備上測量RSE提供了一個(gè)全新方案。

在無(wú)源天線(xiàn)測量上，MiniLAB的電子掃描多探頭陣列封裝在高隔離暗室中，可加快測量速度，并為直徑達30 cm *的被測設備繪制天線(xiàn)輻射圖，使其成為優(yōu)化各種設備天線(xiàn)性能的理想解決方案。

輻射雜散發(fā)射（RSE）是指被測設備（DUT）發(fā)出的所有非基本發(fā)射。高水平的輻射發(fā)射會(huì )對某些特定無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品帶來(lái)功能上的挑戰，干擾其他無(wú)線(xiàn)設備或無(wú)線(xiàn)電系統，或者改變設備本身的運行效率。

出于這個(gè)原因，諸如國際電信聯(lián)盟（ITU）、歐洲無(wú)線(xiàn)電和電信終端設備（R＆TTE）指令以及聯(lián)邦通信委員會(huì )（FCC）的標準化機構對在無(wú)線(xiàn)設備上測量RSE進(jìn)行了嚴格的測試要求規定。這些測試要求旨在消除被測設備附近有其他無(wú)線(xiàn)設備時(shí)的干擾風(fēng)險。

過(guò)去一直以來(lái)都是使用垂直掃描機械運動(dòng)來(lái)測量RSE，以便在方位角旋轉時(shí)監控設備。但這與許多傳統測試方法一樣，在設計和生產(chǎn)過(guò)程中非常耗時(shí)，而對廠(chǎng)商來(lái)說(shuō)上市時(shí)間又是至關(guān)重要的。

相比較，MiniLAB采用多探頭技術(shù)，為在LTE和其他有源設備上測量提供了一個(gè)全新的RSE測試方案。在提供準確、穩定的數據同時(shí)，可以更快速、更詳細、更經(jīng)濟地解決企業(yè)的RSE測試需求。

使用MiniLAB可以大幅縮短測量時(shí)間和提交精確測量數據，其集成的多探頭陣列采用電子掃描來(lái)測量無(wú)線(xiàn)設備，使用戶(hù)能夠更輕松、更快速地在高達6 GHz的LTE頻段測量RSE。測量完成后，20秒內即能獲得RSE測量結果。

MiniLAB配備全電波暗室，屏蔽效能 > 100 dB，并提供高動(dòng)態(tài)范圍，可測量傳輸無(wú)線(xiàn)信號和周?chē)l(fā)射的峰值電平而不會(huì )造成任何失真。

* 具體取決于頻率