彎曲納米銀線(xiàn)的標準改進(jìn)昂貴的商用芯片

人們是否深入想過(guò)：微小的銀納米線(xiàn)為何改變了電子設備領(lǐng)域？銀納米線(xiàn)巨大的應用潛力是其被關(guān)注的主要原因，人們也是非?？春盟奈磥?lái)應用前景。彎曲銀納米線(xiàn)的標準為科學(xué)家帶來(lái)新的思考方向。

根據KAUST的實(shí)驗研究，表明了銀納米線(xiàn)新的排列方法使它們更耐用。這些銀納米線(xiàn)形成透明的導電膜，被應用在太陽(yáng)能電池、應變傳感器和未來(lái)手機。如果將納米技術(shù)應用在電子設備，則需要對單個(gè)微小部件進(jìn)行嚴格的測試，以確保產(chǎn)品實(shí)用性。誰(shuí)也沒(méi)想到，銀納米線(xiàn)作為連接顯示器有巨大的應用潛力，可以被用于柔性、及近乎透明的網(wǎng)格，也可用于觸摸屏或太陽(yáng)能電池。

KAUST的實(shí)驗是為了改進(jìn)昂貴的商用芯片?？茖W(xué)家采用透射電鏡可以檢測納米粒子，能夠詳細研究單個(gè)銀納米線(xiàn)。這讓透射電鏡設計和制造樣品芯片，能夠無(wú)比準確的空間分辨率表征和操縱納米材料。然而商用芯片中含有非常薄的膜來(lái)支持納米顆粒。KAUST研究團隊改進(jìn)新技術(shù)，將銀納米線(xiàn)從鉑電極上懸浮的定制TEM芯片，增加不同頻率的電力，直到銀納米線(xiàn)因電流加熱而失效。最終，科研人員發(fā)現直線(xiàn)型銀納米線(xiàn)在一定高電流密度時(shí)，會(huì )導致局部結構缺陷決定的點(diǎn)易發(fā)生斷裂情況。

KAUST研究團隊突發(fā)奇想，又做了另一組實(shí)驗，當銀納米線(xiàn)開(kāi)始處于彎曲狀態(tài)，會(huì )發(fā)生有趣的行為。樣品芯片在高壓下發(fā)生彎曲而非折斷，并且顯示出一種愈合現象。原因在于電線(xiàn)外部的碳涂層粘合在一起。電子設備的使用，會(huì )被終端用戶(hù)進(jìn)行無(wú)數次的反復折疊彎曲，意味著(zhù)將銀納米線(xiàn)應用局限在直線(xiàn)結構使不現實(shí)的。

銀納米線(xiàn)作為電子設備的柔性、折疊彎曲的理想性材料，自身有著(zhù)非凡的應用潛能。利用銀納米線(xiàn)來(lái)改進(jìn)昂貴的商用芯片，在不降低標準的前提下，提升性能，并降低生產(chǎn)成本會(huì )受到人們的喜愛(ài)。隨著(zhù)科技的發(fā)展成熟，銀納米線(xiàn)所想象的應用前景，會(huì )出現在人類(lèi)的身邊。