多功能存儲器芯片的測試系統設計方案

隨著(zhù)電子技術(shù)的飛速發(fā)展， 存儲器的種類(lèi)日益繁多，每一種存儲器都有其獨有的操作時(shí)序，為了提高存儲器芯片的測試效率，一種多功能存儲器芯片的測試系統應運而生。本文提出了一種多功能存儲器芯片的測試系統硬件設計與實(shí)現，對各種數據位寬的多種存儲器芯片(SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND FLASH、EEPROM等)進(jìn)行了詳細的結口電路設計(如何掛載到NIOSII的總線(xiàn)上)，最終解決了不同數據位寬的多種存儲器的同平臺測試解決方案，并詳細地設計了各結口的硬件實(shí)現方法。

引言

隨著(zhù)電子技術(shù)的飛速發(fā)展，存儲器類(lèi)芯片的品種越來(lái)越多，其操作方式完全不一樣，因此要測試其中一類(lèi)存儲器類(lèi)芯片就會(huì )有一種專(zhuān)用的存儲器芯片測試儀。本文設計的多種存儲器芯片測試系統是能夠對SRAM、Nand FLASH、Nor FLASH、MRAM、EEPROM等多種存儲器芯片進(jìn)行功能測試，而且每一類(lèi)又可兼容8位、16位、32位、40位等不同寬度的數據總線(xiàn)，如果針對每一種產(chǎn)品都單獨設計一個(gè)測試平臺，其測試操作的復雜程度是可想而知的。為達到簡(jiǎn)化測試步驟、減小測試的復雜度、提高測試效率、降低測試成本，特設計一種多功能的存儲器類(lèi)芯片測試系統，實(shí)現在同一平臺下完成所有上述存儲器芯片的方便快捷地測試。

設計原理

此設計方案根據上述各種存儲器獨自的讀寫(xiě)時(shí)序訪(fǎng)問(wèn)特性，通過(guò)FPGA的靈活編程特性，適當地調整NIOSII的外部總線(xiàn)時(shí)序，最終實(shí)現基于NIOSII的外部總線(xiàn)訪(fǎng)問(wèn)各種存儲器讀寫(xiě)時(shí)序的精確操作。如圖2-1。通過(guò)FPGA自定義一個(gè)可以?huà)燧d所有存儲器芯片的總線(xiàn)接口-ABUS，如表1。而且在同一個(gè)接口上能夠自動(dòng)識別各種接入的被測試存儲器芯片，它們通過(guò)類(lèi)別輸入信號(CLAS)來(lái)區分，每一種存儲器芯片對應一種獨特的操作時(shí)序。下面是幾種存儲器芯片的接口連接方式及信號描述。其它的存儲器芯片都可以用類(lèi)似的接法掛載到ABUS總線(xiàn)上，最終完成測試。

40位NAND FLASH連接設計

如圖2-2所示，40位NAND FLASH與NIOSII 通過(guò)ABUS(FPGA)橋接，把外部總線(xiàn)的時(shí)序完全轉換成NAND FLASH的操作時(shí)序。40位NAND FLASH芯片品由五個(gè)獨立的8位NAND FLASH芯片拼接構成。5個(gè)8位器件的外部IO口拼接成40位的外部IO口，而各自的控制線(xiàn)(NCLE，NALE，NRE，NWE)連接在一起構成一組控制線(xiàn)(NCLE，NALE，NRE，NWE)，片選相互獨立引出成NCS0-NCS9，忙信號獨立引出為R/B0-R/B9。

如表2，詳述了40位NAND FLASH與ABUS的連接關(guān)系。

40位SRAM與NIOSII連接

40位SRM模塊與NIOSII通過(guò)ABUS連接，實(shí)現正確的時(shí)序讀寫(xiě)操作。測試時(shí)，一次只測試8位，分5次完成所有空間的測試。如圖2-4。表4是詳細的信號連接說(shuō)明。

8位SRAM與NIOSII連接

8位SRM模塊與NIOSII通過(guò)ABUS(FPGA)連接，實(shí)現正確的時(shí)序讀寫(xiě)操作。如圖2-5。表5是信號連接說(shuō)明。

8位SRM模塊與NIOSII通過(guò)ABUS(FPGA)連接，實(shí)現正確的時(shí)序讀寫(xiě)操作。如圖2-5。表5是信號連接說(shuō)明。

硬件電路設計

在測試NAND FLASH時(shí)，測試時(shí)間長(cháng)達十個(gè)小時(shí)不等。在此為提高測試效率，增加測試速度，本設計采用兩套完全一樣且獨立的硬件系統構成?？赏瑫r(shí)最多測試2片NAND FLASH器件。每一個(gè)硬件系統由一個(gè)微處理器(NIOSII)加一個(gè)大容量FPGA及一個(gè)存儲器測試擴展接口(即ABUS接口)三大模塊構成。如圖3-1。RS232通信接口實(shí)現測試系統與上位機的數據交換，完成人機交互操作。電源系統產(chǎn)生各種合適的電壓，滿(mǎn)足各芯片的電源供給。

處理器模塊電路

處理器模塊電路由FPGA內嵌的NIOSII軟核(CPU)、兩路RS232通信、一個(gè)FLASH芯和一個(gè)SRAM芯片組成。CPU是整個(gè)系統的核心管理者，向下負責各種存儲器芯片的讀寫(xiě)測試，向上負責與上位機通信，實(shí)現人機交互。通信由其中一個(gè)RS232電路完成，另一個(gè)RS232電路用來(lái)實(shí)現系統調試和軟件固化。FLASH芯片用來(lái)存儲程序代碼及重要的數據。而SRAM芯片在CPU上電工作以后，通過(guò)CPU加載FLASH的程序，最終給CPU的程序代碼提供快速的運行環(huán)境。

基于FPGA的ABUS接口模塊

ABUS接口模塊由FPGA芯片、配置FLASH及數據存儲EEPROM芯片構成。ABUS要實(shí)現NIOSII的外部總線(xiàn)與多種存儲器模塊的接口對接，每一種特定的存儲器有一個(gè)特定的時(shí)序邏輯，而每一種時(shí)序邏輯可以通過(guò)FPGA的硬件代碼(IP核)來(lái)實(shí)現，具體的每一個(gè)存儲器模塊在測試時(shí)會(huì )給ABUS接口一個(gè)固定的類(lèi)別信號CLAS，ABUS接口根據這個(gè)類(lèi)別信號識別出各種SIP存儲器模塊，最終切換出正確的對應特定產(chǎn)品的時(shí)序邏輯，來(lái)完成NIOSII通過(guò)外部總線(xiàn)來(lái)對存儲器芯片的讀寫(xiě)測試。而配置FLASH實(shí)現FPGA在上電時(shí)硬件程序的加載工作及掉電數據保護。EEPROM用來(lái)存儲一些重要的系統參數。

SIP存儲器測試擴展接口

存儲器測試擴展接口在硬件上由兩排雙排座構成。一共是120個(gè)管腳。ABUS接口與測試擴展接口相連接：40個(gè)管腳與雙向的數據或I/O線(xiàn)相連、8個(gè)管腳與8根信號輸入控制線(xiàn)相連、16個(gè)管腳與16根片選信號輸出線(xiàn)相連、5個(gè)管腳與5根類(lèi)別輸入信號相連、16個(gè)管腳與16根狀態(tài)輸入信號線(xiàn)相連、27個(gè)管腳與27根地址線(xiàn)相連。其它的管腳可分配成電源和地線(xiàn)，以及信號指示等。

ABUS接口IP核的設計

每一種SIP存儲器對應于一個(gè)特定的ABUS接口IP核，以實(shí)現正確的時(shí)序讀寫(xiě)操作。這個(gè)IP核有一個(gè)統一的接口約定，都是由兩個(gè)固定的接口構成，其中與NIOSII連接的是外部總線(xiàn)接口，其操作按照NIOSII的外部總線(xiàn)時(shí)序規范來(lái)實(shí)現，另一個(gè)接口就是上文提及的ABUS接口，在相應的CLAS信號有效的情況下，它負責把NIOSII的外部總線(xiàn)讀寫(xiě)時(shí)序轉換成對應存儲器芯片的時(shí)序。IP核的工作就是完成這些讀寫(xiě)操作的轉換。表5是各種SIP存儲器對應的類(lèi)別信(CLAS)號輸入值，在設計接口轉接板時(shí)要按這個(gè)值設定，ABUS才會(huì )切換出正確的讀寫(xiě)時(shí)序。

七位類(lèi)別示別信號含義：T_XX_WW_CC，T為1表示高低測試測試，為0表示常溫下的功能測試。XX表示存儲器種類(lèi)，WW表示總線(xiàn)寬度，CC表示容量種類(lèi)。

8位SRAM/MRAM/NOR FLASH接口IP核設計

如圖4-1，SRAM、MRAM和NOR FLASH的接口操作基本一致，NIOSII的總線(xiàn)時(shí)序完全滿(mǎn)足。故在FPGA內部只要簡(jiǎn)單地把相應的控制線(xiàn)和數據線(xiàn)相連就可以了，唯獨只要設計一個(gè)片選寄存器，用來(lái)區分存儲器芯片的16個(gè)片選。每一個(gè)片選可以訪(fǎng)問(wèn)的空間為128MByte。片選寄存器的地址為(基址+0x0FFFFFFC)，基地址設在NIOSII外部總線(xiàn)的最高地址位。

16位SRAM/MRAM/NOR FLASH接口IP核設計

如圖4-2，SRAM、MRAM和NOR FLASH的接口操作基本一致，NIOSII的總線(xiàn)時(shí)序完全滿(mǎn)足。故在FPGA內部只要簡(jiǎn)單的把相應的控制線(xiàn)和數據線(xiàn)相連就可以了，唯獨只要設計一個(gè)片選寄存器，用來(lái)區分SIP的16個(gè)片選。每一個(gè)片選可以訪(fǎng)問(wèn)的空間為128MByte。片選寄存器的地址為(基址+0x0FFFFFFC)，基地址設在NIOSII 外部總線(xiàn)的最高地址位。

32位SRAM/MRAM/NOR FLASH接口IP核設計

如圖4-3，SRAM、MRAM和NOR FLASH的接口操作基本一致，NIOSII的總線(xiàn)時(shí)序完全滿(mǎn)足。故在FPGA內部只要簡(jiǎn)單的把相應的控制線(xiàn)和數據線(xiàn)相連就可以了，唯獨只要設計一個(gè)片選寄存器，用來(lái)區分SIP的16個(gè)片選。每一個(gè)片選可以訪(fǎng)問(wèn)的空間為128MByte。片選寄存器的地址為(基址+0x0FFFFFFC)，基地睛設在NIOSII 外部總線(xiàn)的最高地址位。

40位SRAM/MRAM/NOR FLASH接口IP核設計

如圖4-4，40位的數據寬度有點(diǎn)特殊。在此我們把40位的數據分成5個(gè)8位的區域，用8位寬度的總線(xiàn)去分別訪(fǎng)問(wèn)每一個(gè)區域。IP核中的位選寄存器就是用來(lái)完成切換8位數據總線(xiàn)到40位總線(xiàn)的5個(gè)區域的其中一個(gè)。片選寄存器的地址為(基址+0x0FFFFFFC)，位選寄存器的地址為(基址+0x0FFFFFF8)。最大可以測試128MTImes;40位TImes;16片的存儲器SRAM/MRAM/NOR FLASH模塊。

8位NAND FLASH的ABUS接口IP設計

如圖4-5，通過(guò)寫(xiě)片選寄存器來(lái)選中模塊的16個(gè)片選的其中一個(gè)。我們約定其地址為(基址+0x0FFFFFFC)。讀狀態(tài)寄存器返回的是16個(gè)NAND FLASH芯片的忙信號，其地址為(基址+0x0FFFFFF8)。向地址(基址+0x00)寫(xiě)入數據就是對NAND FLASH數據寄存器的寫(xiě)操作。向地址(基址+0x00)單元讀數據就是對NAND FLASH數據寄存器的讀操作。向地址(基址+0x01)寫(xiě)入數據就是對NAND FLASH命令寄存器的寫(xiě)操作。向地址(基址+0x02)寫(xiě)入數據就是對NAND FLASH地址寄存器的寫(xiě)操作。

16位NAND FLASH的ABUS接口IP設計

16位的NAND FLASH存儲器芯片可以有多種組合方式，可以用多個(gè)16位的NAND FLASH組合，也可以用多個(gè)8位的NAND FLASH組合。這里我們假設16位的SIP NAND FLASH產(chǎn)品是由多個(gè)16位的NAND FLASH組合而成，下面的IP核是根據它的結構來(lái)設計的。

如圖4-6，通過(guò)寫(xiě)片選寄存器來(lái)選中模塊的16個(gè)片選的其中一個(gè)。我們約定其地址為(基址+0x0FFFFFFC)。讀狀態(tài)寄存器返回的是16個(gè)NAND FLASH芯片的忙信號，其地址為(基址+0x0FFFFFF8)。向地址(基址+0x00)寫(xiě)入數據就是對NAND FLASH數據寄存器的寫(xiě)操作。向地址(基址+0x00)單元讀數據就是對NAND FLASH數據寄存器的讀操作。向地址(基址+0x01)寫(xiě)入數據就是對NAND FLASH命令寄存器的寫(xiě)操作。向地址(基址+0x02)寫(xiě)入數據就是對NAND FLASH地址寄存器的寫(xiě)操作。

驗證與總結

將寫(xiě)好的FPGA程序和調試的C代碼寫(xiě)入FLASH后，掉電重配置FPGA，串口的輸出能正常識別所有設置好的存儲器芯片，并能夠進(jìn)行準確地讀寫(xiě)功能測試。達到了設計目的。

本文介紹了一種低成本、簡(jiǎn)單、靈活的多種存儲器芯片測試系統的硬件設計，并采用FPGA、FLASH、SDRAM、RS232電路等實(shí)現。采用這種方案，用戶(hù)可根據市場(chǎng)需求，靈活的增加測試系統功能，實(shí)現更多的存儲器芯片測試。