時(shí)序一致性測試解決方案
在某產(chǎn)品測試過(guò)程中,工程師反饋偶爾會(huì )出現數據異常,經(jīng)過(guò)系統性的分析,致遠電子測試團隊推測可能是ADC芯片的SPI通信總線(xiàn)的時(shí)序存在偶發(fā)異常,但由于異常出現概率很低,該如何對SPI通信總線(xiàn)偶發(fā)的時(shí)序問(wèn)題進(jìn)行定位呢?
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201709/364685.htm一、搭建測試環(huán)境
SPI總線(xiàn)測試點(diǎn)位于主機的主板底部,時(shí)鐘頻率大約為33MHz,屬高頻信號,所以對探頭的端接方式比較講究;為了方便測試,如圖1所示,用短線(xiàn)將測試點(diǎn)引出,探頭的地線(xiàn)也從前端自繞線(xiàn)引出,這樣可以提高信號完整性,減少示波器采樣對時(shí)序分析過(guò)程的影響。

圖1 探頭端接測試點(diǎn)
二、長(cháng)時(shí)間監測定位異常
ZDS4000的時(shí)序分析軟件具備長(cháng)時(shí)間統計功能,下班后設置好示波器,對數據采集儀的SPI總線(xiàn)時(shí)序連續監測一個(gè)晚上,第二天上班的時(shí)候,導出監測分析結果,如圖2所示,一個(gè)晚上總共進(jìn)行了72185次測量,其中有1347次是測量失敗的,導致異常的原因是SPI的數據建立時(shí)間不滿(mǎn)足后級芯片的時(shí)序要求。示波器自動(dòng)保存了這1347份失敗的測試報告,打開(kāi)第1345份測試報告,如圖3所示,顯示了當前建立時(shí)間為3.75ns(包含時(shí)序違規處截圖),不滿(mǎn)足后級芯片4ns建立時(shí)間的要求,而且歷史出現最差的時(shí)序是3.5ns,最好時(shí)序是8.5ns,問(wèn)題得以定位。

圖2 時(shí)序分析統計結果

圖3 測量結果失敗報表
三、定位問(wèn)題并做穩定性驗證
通過(guò)上述測試分析,SPI總線(xiàn)的建立時(shí)間偏小,保持時(shí)間偏大,調整時(shí)鐘信號時(shí)序延遲6.5ns左右,就可得到較好時(shí)序分析,即將數據信號建立時(shí)間和數據信號保持時(shí)間盡可能接近。整改之后再次用時(shí)序分析軟件對SPI總線(xiàn)進(jìn)行一夜的穩定性測量,測量結果如圖4所示,進(jìn)行了72842次時(shí)序分析,所有測試都通過(guò),且每一項測量項都PASS。之前的問(wèn)題項建立時(shí)間,最小值10.75ns,最大值13.5ns,非常完美,這顯示了 SPI總線(xiàn)的時(shí)序非常穩定性。

圖4 時(shí)序分析測量結果
時(shí)序的一致性和穩定性分析,一直以來(lái)都是業(yè)界難題。當前ZLG致遠電子的時(shí)序一致性測試方案已經(jīng)免費支持I2C、SPI、I2S和MIPI-RFFE。
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