基于PXI總線(xiàn)的航天設備測試用高精度恒流源的設計與實(shí)現
在航天設備測試中,陀螺和加速度計測試是不可缺少的重要組成部分。隨著(zhù)陀螺與加速度計精度水平的提高,測試過(guò)程中對其激勵源-恒流源的精度要求越來(lái)越高。本文給出了一種基于PXI總線(xiàn)的高精度恒流源設計,并已成功應用于很多航天型號的陀螺和加速度計測試中。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201706/349084.htm1 系統設計
如圖1所示,系統通過(guò)PXI總線(xiàn)與上位機進(jìn)行通信,本地總線(xiàn)與PXI總線(xiàn)通過(guò)PXI接口電路連接。PXI接口電路將PXI總線(xiàn)指令翻譯成本地局部總線(xiàn)傳給FPGA,通過(guò)FPGA將PXI總線(xiàn)傳輸給D/A進(jìn)行轉換,D/A轉換后的電壓經(jīng)V/I轉換為高精度電流輸出給用戶(hù)。
2 系統電路設計
2.1 PXI接口電路
面向儀器系統的PCI擴展PXI (PCIeXtensionsforInstrumentation)是一種堅固的基于PC的測量和自動(dòng)化平臺。PXI充分利用了當前最普及的臺式計算機高速標準接口——PCI,結合了PCI的電氣總線(xiàn)特性與CompactPCI的堅固性、模塊化及Eurocard機械封裝的特性,并增加了專(zhuān)門(mén)的同步總線(xiàn)和主要軟件特性。這使它成為測量和自動(dòng)化系統的高性能、低成本運載平臺。
目前實(shí)現PXI接口電路的方式主要由兩種:采用可編程邏輯電路和專(zhuān)用芯片。由于采用可編程邏輯電路實(shí)現起來(lái)比較占用芯片內部的資源,本板采用專(zhuān)用芯片來(lái)實(shí)現PXI總線(xiàn)與本地總線(xiàn)之間的轉換。
PCI9054是PLX公司生產(chǎn)的PXI總線(xiàn)通用接口芯片,采用先進(jìn)的PLX數據管道結構技術(shù),符合PXIV2.1和V2.2規范。PCI9054有3種工作模式:M、C和J;本板采用局部總線(xiàn)16位、地址數據不復用、從操作的C模式。
2.2 FPGA電路
FPGA內部邏輯實(shí)現本地總線(xiàn)的譯碼、產(chǎn)生D/A時(shí)序以及讀取板上溫度傳感器測試的溫度值等功能。采用Xilinx公司的XC3S500E,該芯片的等效邏輯門(mén)數為50萬(wàn),同時(shí)還具有158個(gè)用戶(hù)I/O、65個(gè)差分I/O對、73kB的分布式RAM、360kB的RAM和20個(gè)專(zhuān)用乘法器。編程語(yǔ)言選擇Verilog。
2.3 高速數字隔離
為了避免計算機側的數字信號對輸出電流產(chǎn)生干擾,因此必須加一級數字隔離電路,本板采用S18440來(lái)對兩邊的數字信號進(jìn)行隔離。器件利用標準全CMOS技術(shù)設計多組芯片級變壓器以提供4通道隔離功能,體積小、成本低,并能提供2500VRMS的電氣隔離能力。
2.4 D/A轉換
D/A轉換采用AD5542芯片,AD5542是ADI公司的一款單通道、16位、串行輸入、電壓輸出的數模轉換器,采用5 V單電源供電。采用多功能三線(xiàn)式接口,并且與SPI、QSPI、MICROWIRE、DSP接口標準兼容??商峁?6位性能,無(wú)需進(jìn)行任何調整。DAC輸出不經(jīng)過(guò)緩沖,可降低功耗,并減少輸出緩沖所造成的失調誤差。輸出可以設置為單極性或雙極性,上電具有復位功能,在單極性下,上電后輸出為0,在雙極性下,輸出為一VREF。本板采用雙極性輸出。
輸出電壓與輸入的16位碼值之間的關(guān)系為:VO=-VREF+D/32768xVREF,其中D為輸入的十進(jìn)制16位碼值。
D/A轉換部分的電路如圖2所示。
ADR433為D/A芯片AD5542的提供基準源。
AD5542芯片內部輸出沒(méi)有驅動(dòng)運放,需要外加運放使輸出為雙極性電壓,本電路選用的是OP97。
2.5 V/I轉換電路
OP97運放輸出量程為±3.3V的電壓,需加一級V/I轉換電路。本電路所用的V/I轉換電路如圖3所示。
通過(guò)設置固定的5個(gè)碼值:FFFF,BFFF,8000,4000,0,用安捷倫高精度6位半萬(wàn)用表的Agilent34401,上電后經(jīng)過(guò)8個(gè)小時(shí)測試,其分辨率和精度均能達到15.7位。
3 結束語(yǔ)
基于PXI總線(xiàn)的高精度恒流源設計,提供分辨率和精度均為15.7位的輸出電流,提高了抗干擾能力,適用于要求高精度測量的系統。
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