R&S RTO示波器提供支持5Gbps高速串行接口的新測試選件

　　高速串行通訊接口，例如SuperSpeed USB和PCIe，已經(jīng)進(jìn)入很多電路設計。開(kāi)發(fā)人員需要方便易用的工具來(lái)支持此類(lèi)接口的電路調試。羅德與施瓦茨公司推出了針對此類(lèi)應用緊湊完整的測試方案。該方案由R&S RTO2064示波器、支持眾多接口標準的測試選件以及R&S RT-ZM寬帶模塊化探頭組成。最新的測試選件支持SuperSpeed USB (USB3.1 Gen1)、PCIe 1.1/2/0和USB-PD協(xié)議觸發(fā)和解碼，同時(shí)支持PCIe 1.1/2.0的一致性測試。

　　詳實(shí)的協(xié)議分析，細節一目了然

　　全新的觸發(fā)和解碼選件幫助用戶(hù)輕松發(fā)現SuperSpeed USB、PCIe 2.0和USB-PD傳輸中的錯誤。這些選件可以對用戶(hù)定義的協(xié)議事件進(jìn)行觸發(fā)和解碼，借助R&S RTO2000系列示波器完成與協(xié)議觸發(fā)事件時(shí)間相關(guān)的時(shí)頻域測試分析，使故障原因一目了然。分析結果也可通過(guò)具備協(xié)議細節和相關(guān)時(shí)間標簽的表格顯示。同時(shí)，全新選件還具備對不同協(xié)議層進(jìn)行分析的能力。例如，為了追溯協(xié)議錯誤到最底層的bit層，用戶(hù)可以選擇Bit位顯示、符號顯示或具有特定幀起始、地址和數據的協(xié)議顯示。利用這一強大工具，用戶(hù)可以實(shí)現快速的協(xié)議調試和分析。

　　PCIe 1.1/2.0物理層一致性測試

　　針對PCI Express，羅德與施瓦茨公司擴展了一致性測試套件支持PCIe 1.1/2.0標準。分析軟件基于PCI-SIG標準，支持標準定義的信號完整性分析。測試選件可實(shí)現高達2.5Gbps信號的物理層一致性驗證。

　　全新的R&S RTO-K61 USB3.1 Gen1協(xié)議觸發(fā)和解碼、R&S RTO-K72 PCIe 1.1/2/0協(xié)議觸發(fā)和解碼以及R&S RTO-K81 PCIe 1.1/2.0物理層一致性測試選件支持6GHz 帶寬RTO2064示波器。同時(shí)還推出了R&S RTE/RTO-K63 USB-PD協(xié)議觸發(fā)和解碼選件。上述選件于2017年3月14日開(kāi)幕的Embedded World 2017紐倫堡國際嵌入式應用展覽會(huì )上正式發(fā)布。