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手把手教你如何進(jìn)行USB3.0發(fā)射機測試
作者：
時(shí)間：2017-01-12
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò )
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一致性測量
通過(guò)使用圖4（【你所了解和不了解的USB2.0、USB3.0結構與測試那些事】鏈接）列出的各種測試碼型，可以方便地進(jìn)行發(fā)射機測試。每種碼型都是為與評估碼型的測試有關(guān)的特點(diǎn)選擇的。CP0 (D0.0加擾序列)用來(lái)測量確定性(Dj)抖動(dòng)，如數據相關(guān)抖動(dòng)(DDJ)；CP1 (沒(méi)有加擾的D10.2全速率時(shí)鐘碼型)不會(huì )產(chǎn)生DDJ，因此更適合評估隨機抖動(dòng)(Rj)。
抖動(dòng)和眼高在應用均衡器功能及相應的時(shí)鐘恢復設置(二階PLL、10 MHz的閉環(huán)帶寬及0.707的阻尼系數)后使用100萬(wàn)個(gè)連續單位間隔測得。抖動(dòng)結果計算得出，其超越實(shí)測的數據樣本總量，迅速提取1 x 10-12BER水平時(shí)的具體抖動(dòng)性能。例如，在抖動(dòng)推斷中，把實(shí)測Rj (rms)乘以14.069，可以計算得出目標Rj。
圖6.發(fā)射機測試點(diǎn)。
圖7. DPO/DSA70000系列選項USB-TX，用于USB 3.0標準化的測量及信息性的測量。
圖8.使用DPOJET調試USB 3.0，包括自定義控制設置。
圖6顯示了標準化的發(fā)射機一致性測試設置，包括參考測試通道和電纜。測試點(diǎn)2 (TP2)距被測器件(DUT)最近，測試點(diǎn)1 (TP1)則是遠端的測量點(diǎn)。注意，所有發(fā)射機標準化的測量都在TP1的信號上執行。
在TP1采集信號之后，數據使用稱(chēng)為SigTest的軟件工具處理，這與官方PCI Express一致性測試類(lèi)似。對要求預一致性測試、檢定或調試的應用，可以使用其它工具，進(jìn)一步了解變化條件或參數下的設計特點(diǎn)。帶有選項USB-TX的泰克MSO/DPO/DSA70000系列示波器可以執行所有USB 3.0標準化和信息性物理層發(fā)射機測試，如圖7所示。單鍵自動(dòng)軟件工具，如USB-TX，通過(guò)保證正確配置測試設備，節約了時(shí)間。實(shí)驗室技術(shù)人員就可以準確地運行測試，而不是非得要深入了解USB規范的高級工程師。在測試結束后，詳細的測試通過(guò)/失敗報告將列出可能發(fā)生設計問(wèn)題的地方。如果不同測試地點(diǎn)(如公司實(shí)驗室、測試機構、等等)得到的結果相互矛盾，可以使用以前運行的測試中保存的數據運行測試。
帶有選項USB-TX的TekExpress自動(dòng)測試軟件利用基于DPOJET通用分析功能的檢定和調試環(huán)境。靈活的抖動(dòng)和眼圖分析軟件包可以更多地以用戶(hù)自定義方式控制分析參數，幫助加快調試過(guò)程，大大簡(jiǎn)化設計檢定。例如，可以一次顯示多個(gè)眼圖，用戶(hù)可以分析不同時(shí)鐘恢復技術(shù)或軟件通道模型的影響。另外，可以運用不同的濾波器，分析SSC解決系統互操作能力的效果。
圖9.帶有12英寸和24英寸軌跡的ISI電路板。
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