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基于MSP430與FPGA的多功能數字頻率儀設計*

作者:任歡 顏逾越 時(shí)間:2016-10-27 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
編者按:本文采用以FPGA為主,MSP430為輔的框架系統處理方式設計了多功能數字頻率儀。該裝置采用低頻直接測周期,高頻等精度多周期同步測量的方法,通過(guò)進(jìn)一步優(yōu)化標準時(shí)鐘頻率的設置,克服了傳統測頻方法在高精度要求方面的缺陷。將MSP430作為控制處理核心、FPGA作為信號處理單元,將高效控制與快速運算能力相結合,實(shí)現正弦波頻率、兩路方波信號時(shí)間間隔以及矩形脈沖占空比的測量。測試表明,該裝置具有高精度、高穩定性、裝配簡(jiǎn)易和操作便利的特點(diǎn)。

作者/ 任歡 顏逾越 廈門(mén)大學(xué)嘉庚學(xué)院 信息科學(xué)與技術(shù)學(xué)院(福建 漳州 363105)

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201610/311936.htm

摘要:本文采用以為主,為輔的框架系統處理方式設計了多功能數字頻率儀。該裝置采用低頻直接測周期,高頻等精度的方法,通過(guò)進(jìn)一步優(yōu)化的設置,克服了傳統測頻方法在高精度要求方面的缺陷。將作為控制處理核心、作為信號處理單元,將高效控制與快速運算能力相結合,實(shí)現正弦波頻率、兩路方波信號時(shí)間間隔以及矩形脈沖的測量。測試表明,該裝置具有高精度、高穩定性、裝配簡(jiǎn)易和操作便利的特點(diǎn)。

引言

  隨著(zhù)電子產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展,新興產(chǎn)業(yè)對頻率等參量測量結果的快速性、穩定性、精確性等性能指標提出了更高的要求[1]。目前,信號頻率的測量已有多種測量方案,如過(guò)零檢測法[2]、離散傅里葉變換[3]、離散卡爾曼濾波[4-5]等。其中存在對高頻信號的快速測量的局限性、頻譜泄漏[6]以及準確性有待提高[7]等問(wèn)題。本文采用高速現場(chǎng)可編程邏輯陣列()及超低功耗單片機(MCU),結合多周期測量原理,通過(guò)進(jìn)一步優(yōu)化標準時(shí)鐘信號頻率的設置,使用低頻時(shí)鐘計數法直接測周期,高頻等精度法測頻率的方法,實(shí)現對待測信號頻率、、兩路信號時(shí)間間隔等參量的高精度測量。

1 系統設計思路

  1.1 系統總體結構

  系統由Altera公司CycloneII EP2C8Q208C8型號FPGA、TI公司F5529型號MCU、外圍電路模塊、顯示模塊、按鍵模塊和電源模塊構成,系統的總體結構如圖1所示。其中,MCU是本系統的控制中心,主要負責數據接收、邏輯處理和命令傳達;FPGA是本系統的核心測量模塊,主要負責利用由其內含的計數模塊而構成的等精度頻率測量模塊、高電平時(shí)間計數模塊、低電平時(shí)間計數模塊、時(shí)間間隔測量模塊進(jìn)行高頻信號的頻率、低頻信號的周期、單路方波信號的和兩路方波信號時(shí)間間隔的測量,并根據MCU給定的控制信號,通過(guò)SPI協(xié)議發(fā)送相應的測量數據至MCU中;外圍電路模塊是本系統的輸入信號調理模塊,主要負責將待測信號f(x)通過(guò)一系列的放大、整形等處理輸出為FPGA可直接判別并計數的方波信號;顯示模塊主要用于已測得信號的頻率、占空比、時(shí)間間隔等參量的顯示,并由按鍵模塊進(jìn)行數據刷新。

  1.2 時(shí)間及頻率測頻原理

  等精度頻率測量法是指在給定一種標準時(shí)鐘信號的情況下,通過(guò)對待測信號的上升沿進(jìn)行多次識別及計數,從而得到待測信號頻率的方法。等精度頻率測量法的原理圖如圖2所示,若待測信號在標準時(shí)鐘信號上升沿個(gè)數為m的T秒時(shí)間內,上升沿個(gè)數為n個(gè)[8],則待測信號頻率為:

(1)

  其中,fx為待測信號頻率,fs為標準時(shí)鐘信號頻率。

  將式(1)進(jìn)行微分及相應變換可得:

  其中,dfs/fs為標準信號誤差,即晶振誤差,由于晶振穩定性高,這一部分誤差可忽略不計。

  則頻率測量誤差為:

(4)

  由此可見(jiàn),理論中測量誤差與待測信號頻率參數無(wú)關(guān)[9-10],增長(cháng)標準時(shí)鐘信號的同步時(shí)間T或增大時(shí)鐘信號的頻率皆可進(jìn)一步提高測量精度,且等精度測頻法無(wú)法對頻率低于1/T低頻信號進(jìn)行測量。另一方面,在實(shí)際測試中,FPGA計數結果可能因硬件延遲存在著(zhù)兩個(gè)計數值的固定誤差,則有實(shí)際誤差為:

(5)

  若要求測量誤差小于η時(shí),則符合精度的待測頻率fx的最小值為:

(6)

  直接測周法是一種對待測信號一個(gè)周期內標準時(shí)鐘信號進(jìn)行計數,從而測量待測信號頻率的方法,其測量原理圖如圖3所示。若標準時(shí)鐘信號在待測信號一個(gè)周期內上升沿個(gè)數為m個(gè)[11],則待測信號頻率為:

(7)

  同理可得:

(8)

  同理,省略掉晶振誤差,且考慮FPGA硬件延遲后,可得直接測周法的測量誤差為:

(9)

  由此可見(jiàn),理論中測量誤差與待測信號頻率參數有關(guān),若要求測量誤差小于時(shí),則符合精度的待測頻率fx最大值為:

(10)

  若要對低頻段采用直接測周法,高頻段采用等精度測頻法實(shí)現對整個(gè)通帶的信號頻率測量,則必須有,即必須將標準時(shí)鐘信號頻率設置為:

本文來(lái)源于中國科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2016年第9期第65頁(yè),歡迎您寫(xiě)論文時(shí)引用,并注明出處。


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