基于VMM驗證方法學(xué)的MCU驗證環(huán)境

MCU指令一旦開(kāi)始運行，尤其是隨機指令，指令執行不是順序，有時(shí)會(huì )跳入死循環(huán)，很難設定仿真中止時(shí)間，這里設定了兩種機制，一種是仿真指令計數，另一種就是根據覆蓋率分析，通過(guò)VMM的覆蓋率分析函數，可以動(dòng)態(tài)的得到覆蓋率情況，如果隨機指令跳入死循環(huán)，覆蓋率就會(huì )一直維持不變，每次覆蓋率分析不變就進(jìn)行計數，當計數超過(guò)限定，就會(huì )讓ScoreBoard結束，通過(guò)環(huán)境對ScoreBoard的監測，一旦ScoreBoard停止，整個(gè)仿真也會(huì )停下。

4.7 功能覆蓋率模型

對于MCU這樣的DUT，代碼覆蓋率已經(jīng)不能夠代表驗證進(jìn)度，而功能覆蓋率也只能代表相當一部分待驗證的功能，這里對于基本的memory，功能覆蓋率僅要求所有位都被指令操作過(guò)，對于特殊寄存器SFR，需要指定某些特定位有相應的“0”以及“1”狀態(tài)。代碼如下：

coverpoint memory[‘h87]

{

wildcard bins b87m_0_0 = {8’bxxxxxxx0};

wildcard bins b87m_1_0 = {8‘bxxxxxxx1};

wildcard bins b87m_0_1 = {8’bxxxxxx0x};

wildcard bins b87m_1_1 = {8‘bxxxxxx1x};

}

另外可以收集指令與指令參數的交叉覆蓋率分析，例如：

covergroup gen_port_cov;

coverpoint addr_mode;

coverpoint kind;

cross addr_mode， kind;

option.weight = 0;

endgroup

可以說(shuō)對于MCU這樣的DUT，功能點(diǎn)很難被完全描述，但是功能覆蓋率還是提供了一部分量化指標，供驗證參考。

5 小結

本文實(shí)現了一個(gè)驗證MCU指令的基于VMM的驗證環(huán)境，在這個(gè)環(huán)境里不但可以使用隨機的指令生成來(lái)輸入指令，也可以使用已有的應用程序代碼，另外提供了 memory自檢環(huán)境，可以在每一條指令執行后檢查memory值，從最全面角度保證每條指令執行結果是正確的。此外還提供了功能覆蓋率模型，收集覆蓋率結果。這個(gè)環(huán)境可以被復用擴展，基于這個(gè)MCU開(kāi)發(fā)的軟件都可以在這個(gè)驗證環(huán)境中先運行以保證軟件的正確性。