全新參數分析儀降低特性分析復雜度，加快獲得信息的速度

　　全球領(lǐng)先的測量解決方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數分析儀，通過(guò)降低新用戶(hù)或偶爾使用的用戶(hù)面臨的特性分析復雜度，簡(jiǎn)化測試設置，提供清楚精確的結果，加快了用戶(hù)獲得半導體器件、材料和工藝洞察力的速度。

　　Keithley 4200-SCS參數分析儀已經(jīng)取得了巨大的成功，在此基礎上，新推出的4200A-SCS儀器采用現代工業(yè)設計，擁有全新圖形用戶(hù)界面及多種自學(xué)工具，如儀器內嵌的專(zhuān)家指導視頻。其結果，是測試設置時(shí)間縮短達50%，操作明顯更容易、更直觀(guān)。易用性對半導體器件研究、器件故障分析或可靠性測試等應用尤其重要，在這些應用中，多個(gè)用戶(hù)之間要共享儀器資源。

　　“參數分析對商用前分析新型半導體器件、材料或測試器件的可靠性至關(guān)重要。但是，科研人員可能只需偶爾執行這些測試，因此很難成為使用參數測試儀器的專(zhuān)家。”泰克科技公司吉時(shí)利產(chǎn)品線(xiàn)總經(jīng)理Mike Flaherty說(shuō)，“正因如此，我們不遺余力地使4200A-SCS設置和學(xué)習操作方面特別簡(jiǎn)便，即使對以前沒(méi)有參數分析儀經(jīng)驗的用戶(hù)也不例外。”

　　新型開(kāi)關(guān)模塊

　　泰克深知，各種測量給半導體研究增加了進(jìn)一步的復雜度，因此還推出Keithley 4200A-CVIV四通道IV/CV開(kāi)關(guān)模塊。這個(gè)模塊用于4200A-SCS主機，能夠在SMU(I-V)測量與電容-電壓(C-V)測量之間隨意切換，用戶(hù)可以把C-V測量移動(dòng)到任何器件端子，而不需抬起探針或移動(dòng)電纜。

　　由于新型寬屏高清顯示器，4200A-SCS為交互式測試和試驗提供了更多的屏幕空間。這種顯示器與全新用戶(hù)界面相結合，既為偶爾使用的用戶(hù)提供了直觀(guān)的操作能力，又為專(zhuān)家用戶(hù)提供了所需的高級功能。全新用戶(hù)界面包括專(zhuān)家視圖，融匯了世界各地吉時(shí)利應用工程師的知識和智慧。這些視頻縮短了用戶(hù)的學(xué)習周期，在發(fā)生意想不到的結果時(shí)幫助用戶(hù)調試問(wèn)題，對其看到的結果樹(shù)立信心。

　　與上一代儀器一樣，4200A-SCS是一種全面集成的模塊化參數分析儀，可以分析材料、半導體器件和工藝的電氣特點(diǎn)。4200A-SCS由進(jìn)行I-V特性分析的多個(gè)源測量單元、用于A(yíng)C阻抗測量的電容-電壓模塊以及執行脈沖式I-V、波形捕獲和瞬態(tài)I-V測量的超快速脈沖測量單元組成，為科研人員或工程師進(jìn)行材料研究、半導體器件設計、開(kāi)發(fā)或生產(chǎn)提供了所需的關(guān)鍵參數。