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參數分析儀
參數分析儀 文章 進(jìn)入參數分析儀技術(shù)社區
【泰克干貨分享】閃爍噪聲的監測，詳解用SCS參數分析儀測試1/f噪聲
- 電子器件會(huì )有不同類(lèi)型的噪聲源，包括熱噪聲、白噪聲和1/f噪聲。1/f噪聲是低頻電子噪聲，其電流（ISD）或功率（PSD）頻譜密度與頻率成反比，見(jiàn)下圖典型噪聲譜，前面是1/f噪聲，大小和頻率相反，后面是白噪聲，均勻分布。由于1/f噪聲反映了器件的質(zhì)量、可靠性等參數 , 其研究越來(lái)越為人們所重視。 1/f噪聲測試為確定器件的1/f噪聲，我們通常要測量電流相對于時(shí)間的關(guān)系，然后通過(guò)快速傅立葉變換（FFT）把數據轉換到頻域。為保證準確性，儀器本身噪聲必須小于DUT噪聲，所以測試方案推薦使用能測試極小電流的4200
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全新參數分析儀降低特性分析復雜度，加快獲得信息的速度
- 全球領(lǐng)先的測量解決方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數分析儀，通過(guò)降低新用戶(hù)或偶爾使用的用戶(hù)面臨的特性分析復雜度，簡(jiǎn)化測試設置，提供清楚精確的結果，加快了用戶(hù)獲得半導體器件、材料和工藝洞察力的速度。 Keithley 4200-SCS參數分析儀已經(jīng)取得了巨大的成功，在此基礎上，新推出的4200A-SCS儀器采用現代工業(yè)設計，擁有全新圖形用戶(hù)界面及多種自學(xué)工具，如儀器內嵌的專(zhuān)家指導視頻。其結果，是測試設置時(shí)間縮短
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參數分析儀介紹
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