數字測試儀下的參數測試單元的設計
最后是信號處理部分,這部分電路主要由高速16位DAC、ADC以及各種運算放大器、儀器放大器以及存儲器構成,主要進(jìn)行各種參數測試、存儲和反饋。本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/195864.htm
2 高精度信號測量模塊的實(shí)現
要實(shí)現高精度信號測量模塊,必須具有高精度的DAC和ADC轉換芯片,這里采用了TI公司的DAC702和ADI公司的AD976來(lái)進(jìn)行16位精度的信號輸出和回采。測量模塊原理如圖3所示,測試單元搭配了5個(gè)千分之一精度的精密電阻:50Ω、500Ω、50kΩ、500kΩ和5MΩ來(lái)劃分不同的測試范圍。為了保證足夠的測試精度,本測量單元還專(zhuān)門(mén)劃分JDQF和JDQS,使得整個(gè)測試系統具備Kelvin連接要素,可以分別向DUT(待測單元)提供FORCE線(xiàn)、SENCE線(xiàn)、LOW FORCE和LOW SENCE線(xiàn),具備了當負載為小電阻情況下進(jìn)行精確測量的能力。
參數測試單元軟件設計
1 通信協(xié)議
與傳統測試儀不同,該測試儀采用了Altera系列的FPGA芯片作為主控制芯片,這意味著(zhù)該測試系統無(wú)法借助MCU核自身的指令系統來(lái)簡(jiǎn)化整個(gè)系統的指令系統。本測試儀的內部指令,全部采用了自定義的指令系統,能夠完整的對系統測試時(shí)的各個(gè)動(dòng)作進(jìn)行操作和切換,同時(shí)可以靈活地根據客戶(hù)需要進(jìn)行各種設計和改進(jìn),不會(huì )因為受限于MCU內核而出現系統瓶頸,在整個(gè)設計中具備了非常強的自主知識產(chǎn)權。
圖3 測量模塊原理圖
整個(gè)測試儀是基于PLX9054芯片進(jìn)行的32位數據的PCI通信。為了協(xié)同整個(gè)測試系統控制,參數測試單元的控制設備采用了32位PCI數據中的24位作為內部總線(xiàn)來(lái)控制各種測試動(dòng)作,實(shí)現控制狀態(tài)的轉換。整個(gè)數據流如圖4所示,每個(gè)數據包包含了24位數據,其中高8位定義為地址碼,用來(lái)解釋整個(gè)系統的各種操作,包含了數字和模擬參數測試的各個(gè)動(dòng)作。低16位為測試數據位,用來(lái)傳輸測試必須的各種數據。
其中,參數測量的指令包含了FVPMU加電壓測量指令,該指令包含了5個(gè)命令地址:0011_1100、0011_1101、0011_1110、0011_1111、0100_0000依次表示測量中選取采樣電阻命令、加壓命令、電流保護命令、上限電流和下限電流保護命令。此外參數測量指令還有類(lèi)似的FIPMU加電流測量指令等各種測量指令。
圖4 數據流格式
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