使用NI LabVIEW FPGA 與智能 DAQ的自動(dòng)高電壓電擊

Author(s):
David Hakey - Medtronic, Inc.
Patrick J. Ryan - Medtronic, Inc.
Johnny Maynes - Medtronic, Inc.

Industry:
Electronics, Biotechnology

Products:
NI-VISA, LabVIEW, FPGA Module, PXI-7811R

The Challenge:
構成自動(dòng)化的高電壓 (HV) 電擊器測試系統，以個(gè)別測試 12 組 HV 電擊器模塊，并可測試不同的產(chǎn)品類(lèi)型，縮短整體測試時(shí)間。

The Solution:
使用 NI LabVIEW FPGA 軟件與 NI 智能數據采集 (DAQ) 硬件，建立非同步化的環(huán)境；所有的 12 個(gè)模塊均具有獨立通訊埠，并可自動(dòng)執行作業(yè)。

Medtronic 公司的測試工程團隊必須研發(fā)自動(dòng)化的 HV 電擊器測試解決方桉，且共 12 個(gè)測試模塊能夠個(gè)別測試 1 ~ 4 種不同的產(chǎn)品，以縮短整體測試時(shí)間。透過(guò) LabVIEW FPGA 與 NI 智能DAQ硬件，團隊將模塊通訊速度從 20 KHz (平行通訊埠) 大幅提升至 1.7 MHz (FPGA)，而縮短整體測試時(shí)間。

前款手動(dòng)系統即透過(guò)平行通訊埠同步執行 12 個(gè)模塊，僅可測試 1 種 HV 電擊器，且測試 12 組儀器需耗時(shí) 135 分鐘。新的自動(dòng)化系統可透過(guò) FPGA 數位 I/O 通訊功能，非同步執行 12 個(gè)模塊，并于 48 分鐘內測試最多 4 種不同類(lèi)型的共 12 項裝置。重入碼測試序列器 (Reentrant test sequencer) 與測試程式可獨立控制各測試模塊，因此可由自動(dòng)化裝置操作 (Handling) 系統引導進(jìn)行各組測試作業(yè)。執行測試的主機電腦整合自動(dòng)化裝置操作系統，與 HV 電擊器測試系統。

測試自動(dòng)化
AeroSpec 測試自動(dòng)化操作系統將負責從 4 組輸入盤(pán) (Input tray) 中取出待測裝置 (DUT)；透過(guò)光學(xué)自行辨識 (OCR) 功能讀取 DUT 序號；將 DUT 載入或卸載 12 組測試模塊之一；最后根據測試結果，將 DUT 置于 12 組輸出盤(pán)之一。4 項不同的產(chǎn)品可設定于 4 組輸入盤(pán)中，每輸入盤(pán)可容納 20 組裝置。

Test executive 系統為主控制器，可提供使用者界面、主導測試模塊的負載與卸載程度，并讓 Test manager 針對實(shí)際裝置或裝載于測試模塊的裝置，進(jìn)行 HV 電擊器測試。