采用電波暗室測試電路的RF噪聲抑制能力

　　GSM手機的隨處可見(jiàn)正導致不需要的RF信號的持續增加，如果電子電路沒(méi)有足夠的RF抑制能力，這些RF信號會(huì )導致電路產(chǎn)生的結果失真。為了確保電子電路可靠工作，對于電子電路RF抑制能力的測量已經(jīng)成為產(chǎn)品設計必不可少的一個(gè)環(huán)節。本文介紹了一種通用的RF抑制能力測量技術(shù)－RF電波暗室測量裝置，描述了它的組成和操作方式，并給出了實(shí)際測量結果的例子。

　現在大多數蜂窩電話(huà)采用的無(wú)線(xiàn)技術(shù)是時(shí)分多址(TDMA)，這種復用技術(shù)以217Hz的頻率對高頻載波進(jìn)行通/斷脈沖調制。容易受到RF干擾的IC會(huì )對該載波信號進(jìn)行解調，再生出217Hz及其諧波成分的信號。由于這些頻譜成分的絕大多數都落入音頻范圍，因此它們會(huì )產(chǎn)生不想要的聽(tīng)得見(jiàn)的“嗡嗡”聲。由此可見(jiàn)，RF抑制能力較差的電路會(huì )對蜂窩電話(huà)的RF信號解調，并會(huì )產(chǎn)生不希望聽(tīng)到的低頻噪音。為了測量產(chǎn)品的質(zhì)量，測試時(shí)需要把電路放在RF環(huán)境中測量，該RF環(huán)境要與正常操作時(shí)電路遇到的環(huán)境相當。

　　本文描述了一種通用的集成電路RF噪聲抑制能力測量技術(shù)。RF抑制能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，該RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的干擾強度。這樣就產(chǎn)生了一個(gè)標準化、結構化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量分析中可重復的有用結果。這樣的測試結果有助于IC選型，從而獲得最能夠抵抗RF噪聲的電路。

　　可以將被測件(DUT)靠近正在工作的蜂窩電話(huà)，以測試其RF敏感度，但是，為了得到一個(gè)精確的、具有可重復性的試驗結果，需要采用一個(gè)固定的測量方法，在可重復的RF場(chǎng)內測試DUT。解決方案是采用RF測試電波暗室，提供一個(gè)可精確控制的RF場(chǎng)，其相當于典型移動(dòng)電話(huà)所產(chǎn)生的RF場(chǎng)。

　　下面，我們對Maxim的一款雙運放(MAX4232)和一款競爭產(chǎn)品(X)進(jìn)行RF抑制能力比較測試。

　　圖1：雙運放的RF噪聲抑制能力測量電路(online)

　　RF抑制測試電路(圖1)給出了連到待測雙運放的電路板連接，每個(gè)運算放大器被配置成交流放大器，沒(méi)有交流輸入時(shí)，輸出設置在1.5V直流電平(VCC = 3V)。反相輸入通過(guò)1.5環(huán)線(xiàn)(模擬輸入端的PC引線(xiàn))短路至地，該環(huán)路用來(lái)模擬實(shí)際引線(xiàn)的的效應，實(shí)際引線(xiàn)在工作頻率下會(huì )作為天線(xiàn)，收集和解調RF信號。通過(guò)在輸出端連接一個(gè)電壓表，測量和量化運算放大器的RF噪聲抑制能力。

　　圖2：RF噪聲抑制能力測量裝置