SPARQ系列述評之四―― VNA用戶(hù)的真實(shí)故事

有一次，卡爾被問(wèn)到如何提高測量的吞吐率。他說(shuō)他已經(jīng)以很快速度采集數據。他將被測器件與他的背板掛鉤起來(lái)，并演示了VNA掃頻和產(chǎn)生S參數的速度是多么 之快。他從保存的目錄中回調了校準文件然后很快取得數據。取得S參數數據僅需幾分鐘時(shí)間。按照卡爾的觀(guān)點(diǎn)VNA是非常容易使用的。

但是當卡爾被問(wèn)到花了多長(cháng)時(shí)間去測量背板上的8條線(xiàn)路時(shí)，他說(shuō)“整個(gè)下午”。很顯然有一些時(shí)間是卡爾遺漏的。他意識到他的大部分時(shí)間都花在將背板送進(jìn) VNA所在的實(shí)驗室內，通過(guò)痛苦和有時(shí)候是不可靠的校準過(guò)程以及連接線(xiàn)路。而且，之后還有大量工作去補償夾具對測量的負面影響，這一直是難以理解的過(guò)程。