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矢量網(wǎng)絡(luò )分析校準技術(shù)介紹

—— ?虛擬網(wǎng)絡(luò )分析校準技術(shù)介紹
作者: 時(shí)間:2024-03-04 來(lái)源:EEPW編譯 收藏

了解矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀()校準技術(shù)如何糾正測量誤差的基礎知識。

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202403/455939.htm

矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀()是射頻和微波應用中最精確的測量?jì)x器。例如,現代可能比任何其他功率傳感器具有更好的精度來(lái)測量RF功率。這種準確性的很大一部分來(lái)自適用于VNA的獨特校準技術(shù)。這些技術(shù)允許修正幅度和相位測量中的系統誤差。

VNA校準技術(shù)是一個(gè)廣泛研究的課題,有數百篇論文對其數學(xué)方面進(jìn)行了探討。然而,它常常以相對復雜和模糊的方式呈現。作為用戶(hù),我們需要更基本地了解各種校準技術(shù),包括優(yōu)勢和劣勢,以便我們能夠針對任何特定情況選擇最佳校準方法。本文旨在通過(guò)提供一個(gè)更易于接近的VNA校準介紹來(lái)滿(mǎn)足這一需求。

在深入探討之前,應該指出的是,大多數儀器的校準是指由制造商或服務(wù)中心進(jìn)行的工廠(chǎng)校準。然而,對于VNA,校準可能有一個(gè)額外的意義:用戶(hù)進(jìn)行的錯誤校正,以消除整個(gè)測試設置的系統錯誤,不僅包括VNA本身,還包括其電纜、連接器等。這有時(shí)會(huì )讓新手對VNA技術(shù)產(chǎn)生困惑。

要了解VNA校準及其可以糾正的錯誤,讓我們探索一個(gè)簡(jiǎn)單的測量示例:使用VNA進(jìn)行反射測量。

測量濾波器的輸入反射

圖1中的簡(jiǎn)化框圖顯示了VNA如何測量被測設備(DUT)的S參數。在這種情況下,被測設備為低通濾波器。

測量低通濾波器s參數的虛擬網(wǎng)絡(luò )分析的簡(jiǎn)化框圖。

 1.png

?圖1。低通濾波器s參數的可變截面分析測量。

如果我們測量DUT的輸入反射系數,則VNA產(chǎn)生器通過(guò)耦合器1朝向DUT的輸入發(fā)射激勵波。當波到達被測設備的輸入端口時(shí),它朝向定向耦合器反射回來(lái)。

耦合器分離反射波并將其一部分施加到端口1(Rx2)的測量接收器。端口1(Rx1)的參考接收器測量原始刺激信號。有了入射波和反射波的相位和振幅,我們現在可以確定DUT的輸入反射系數。然而,這種對VNA操作的基本解釋忽略了一些可能導致測量誤差的非理想性。。

耦合器有限指向性導致的誤差

我們將討論的第一個(gè)誤差來(lái)源是定向耦合器的有限方向性。理想地,進(jìn)入耦合器1的激勵信號不應該出現在測量接收器的輸入端。然而,真實(shí)世界中的定向耦合器會(huì )將入射波的一部分泄漏到耦合端口,如圖2中品紅色泄漏路徑所示。

VNA測量低通濾波器輸入反射的框圖,其中兩個(gè)不需要的信號用虛線(xiàn)標記。

 2.png

?圖2。在輸入反射測量期間,由于來(lái)自耦合器(品紅色)的泄漏和端口2(紅色)的阻抗失配而出現在VNA中的不希望的信號。

即使DUT的輸入完全匹配并且因此沒(méi)有來(lái)自它的反射,測量接收器仍然檢測到由于這種泄漏而導致的非零功率。泄漏量以及延伸的泄漏誤差取決于耦合器的方向性。

來(lái)自虛擬網(wǎng)絡(luò )分析端口2的反射導致的錯誤

圖2中的紅色路徑顯示了另一個(gè)錯誤來(lái)源。這個(gè)誤差是由于VNA端口2的阻抗與理想的50Ω略有不同。這種阻抗失配導致從DUT出來(lái)的信號朝向它反射回來(lái)。

如果DUT是一個(gè)低損耗倒數設備,例如,一個(gè)濾波器,反射信號以很小的衰減通過(guò)DUT,并耦合到Rx2的輸入。Rx2不能區分從DUT的輸入反射的信號和從VNA的端口2反射的不希望的信號,這在測量中產(chǎn)生了誤差。

 來(lái)自虛擬網(wǎng)絡(luò )分析端口1的反射導致的錯誤

如果虛擬網(wǎng)絡(luò )分析端口1的阻抗與理想的50Ω略有不同,則不匹配可能導致端口1不能完全吸收從被測設備反射的功率。因此,在耦合器和DUT之間可能發(fā)生多次反射,導致額外的誤差項。圖3中的綠色路徑顯示了這些多重反射。

測量低通濾波器輸入反射的VNA框圖。綠色虛線(xiàn)表示不需要的組件的路徑。

 3.png

?圖3。綠色路徑顯示了DUT和VNA端口1之間可能發(fā)生的多次反射。

在上述討論中,誤差來(lái)源于耦合器的VNA有限方向性的非理想性以及測試端口的失配。然而,總誤差也取決于測試設置中使用的電纜和連接器。

即使電纜提供了完美的50Ω阻抗,端口1和DUT輸入之間的電纜長(cháng)度也決定了圖3中綠色路徑的長(cháng)度。這反過(guò)來(lái)會(huì )影響相應誤差項的相位。電纜損耗也會(huì )影響誤差信號的振幅。

正如我們剛才所看到的,測量誤差取決于多種因素——VNA、測試設置中使用的電纜和連接器以及DUT的特性都起著(zhù)一定的作用。我們現在有三個(gè)誤差項,每個(gè)誤差項對應一個(gè)信號路徑:

指向性誤差(品紅色,圖2)。

端口2反射誤差(紅色,圖2)。

端口1反射誤差(綠色,圖3)。

我們可以將這些誤差項分別稱(chēng)為x1、x2和x3。為了更好地理解測量誤差并了解這些誤差項的重要性,讓我們使用我們已經(jīng)檢查過(guò)的VNA和一些典型值來(lái)完成一個(gè)示例。

?

假設如下:

DUT是具有1dB插入損耗(Lfilter=1)和20dB返回損耗(RLfilter=20)的低通濾波器。

耦合器1的指向性為30分貝(D=30)。

虛擬網(wǎng)絡(luò )接入端口的返回損耗為25 dB(可重復使用端口=25 dB)。

給定這些值,x1、x2和x3有多大?

讓我們首先找到x1,即指向性誤差。為簡(jiǎn)單起見(jiàn),我們將忽略耦合器的干線(xiàn)損耗。

計算指向性誤差

首先,讓我們檢查所需的信號。激勵信號通過(guò)耦合器傳播并且從DUT的輸入反射以在測量接收器(Rx2)的輸入處出現。

 4.png

?方程式1。

式中C為耦合器1的耦合因子。

在上一篇文章中,我們探討了有限的方向性如何影響功率測量。正如您在討論中可能記得的那樣,C是用于表征定向耦合器的三個(gè)因素之一:  

隔離系數(I)

耦合系數(C)

方向性系數(D)

這些因素與以下方程式相關(guān):

 5.png

?方程式2。

通過(guò)品紅色路徑耦合的信號經(jīng)歷等于耦合器的隔離因子的損耗。因此我們知道來(lái)自品紅色路徑的不希望信號的功率是比刺激信號的功率低C+D分貝。圖3比較了與三個(gè)信號相關(guān)的功率項:

Pi,入射(刺激)信號的功率。

Pd,從被測設備輸入端反射的所需組件的功率。

Pc1,通過(guò)品路徑耦合的不希望分量的功率。

入射功率項、預期功率項和非預期功率項的比較。

 6.png

?圖4。入射信號(Pi)、希望信號(Pd)和不希望信號(Pc1)的相對功率電平。

所需信號的功率和不希望信號的功率之間的差值(以分貝為單位)由下式給出:

 7.png

?方程式3。

舉個(gè)例子,D被設定為30 dB,RLfilter被設定為20 dB。因此,Pc1比Pd低10dB。如果我們考慮電壓量,我們可以計算誤差項如下:

 8.png

?方程式4。

不希望電壓的振幅是比希望電壓小0.32的因子。注意,這個(gè)誤差項取決于耦合器的方向性和DUT的返回損耗。

滾動(dòng)繼續

計算端口2反射誤差

接下來(lái),讓我們考慮穿過(guò)圖2中的紅色路徑的不希望有的組件。該信號:

通過(guò)被測器械,導致L濾波器損耗。

從VNA端口反射,導致RLport丟失。

當被測設備朝向耦合器行進(jìn)時(shí)再次通過(guò)被測設備,再次遭受L濾波器損耗。

通過(guò)耦合器出現在接收機Rx2的輸入端,經(jīng)歷了等于耦合因子的衰減。

因此,該路徑的總損耗為:

 9.png

?方程式5。

這如圖5所示,其中這個(gè)不需要的分量的功率被標記為Pc2。

正在討論的入射、希望和不希望信號的相對功率等級。

 10.png

?圖5。入射信號(Pi)、希望信號(Pd)和不希望信號(Pc2)的相對功率電平。

Pd和Pc2之間的差值由下式給出:

11.png 11.png

?方程式6。

因此,這個(gè)不希望的分量的功率比希望的分量的功率低7 dB。我們現在可以找到x2,就像我們找到x1一樣:

 12.png

?方程式7。

不希望電壓的振幅比希望電壓的振幅小0.45倍。誤差項取決于虛擬網(wǎng)絡(luò )分析和被測設備參數。

計算端口1反射誤差

最后,我們計算了與圖3中的綠色路徑相關(guān)的誤差項。該信號執行以下操作:

從被測設備輸入端反射,失去可重復使用濾波器。

失去RLport時(shí),從VNA端口1跳出。

再次從DUT的輸入中反射,再次遭受RLfilter的損失。

在出現在Rx2的輸入端之前,通過(guò)耦合器,增加了C的損耗。

因此,該路徑的總損耗為:

 13.png

?方程式8。

入射功率、所需功率和不希望的分量(Pc3)的功率之間的關(guān)系如圖6所示。

Pi、Pd和Pc3功率項的比較。

 14.png

?圖6。入射信號(Pi)、所需信號(Pd)和我們的最終不希望信號(Pc3)的相對功率電平。

Pd和Pc3之間的差異可表示為:

 15.png

?方程式9。

Pc3比所需組件低45 dB。如果我們考慮電壓量,不希望電壓的振幅比希望電壓小0.006倍:

 16.png

?方程式10。

因為這個(gè)誤差項是多次反射的結果,所以它的幅值很快下降,特別是當DUT和測試端口都呈現相對匹配的阻抗時(shí)。注意x3與x1和x2一樣,也依賴(lài)于VNA和DUT的特性。

測量不確定度范圍

我們現在獲得了所有三個(gè)不希望分量相對于所需分量的相對振幅。如果我們假設所需信號具有單位的振幅,則三個(gè)不希望信號具有0.32、0.45和0.006的振幅。通過(guò)將這三個(gè)信號加到所需信號中和從所需信號中減去這三個(gè)信號,我們可以找到最壞的測量不確定度范圍。

測量接收機Rx2測量的功率可以比理想值高20log(1+0.32+0.45+0.006)=4.99 dB或低20log(1–0.32–0.45–0.006)=–13 dB。這是一個(gè)不可接受的大不確定性,但我們可以通過(guò)進(jìn)行一些調整和應用VNA校準技術(shù)來(lái)顯著(zhù)減少。

減少測量不確定度

上述實(shí)例中的大測量不確定性的一部分來(lái)源于DUT是一個(gè)低損耗的往復裝置。注意,濾波器(20 dB)和VNA端口(25 dB)的返回損耗是相當的。因此,從VNA端口2反射的不希望的信號具有與我們希望的信號相當的功率,除了不希望的分量經(jīng)歷兩倍于濾波器的衰減之外。

因為濾波器在其通帶中具有相對小的插入損耗(1dB),所以不希望項沒(méi)有被濾波器顯著(zhù)抑制。為了減弱這個(gè)誤差分量,我們可以從VNA的端口2斷開(kāi)濾波器的輸出,并終止匹配良好的負載中的濾波器的輸出。我們還可以通過(guò)在濾波器的輸出和VNA的端口2之間插入高質(zhì)量的衰減器來(lái)減少不匹配的不確定性。

讓我們假設,通過(guò)應用這兩種技術(shù)中的一種,我們可以將從VNA端口2反射的信號減少到可忽略不計的水平。在這種情況下,Rx2測量的功率可以比理想值高20log(1+0.32+0.006)=2.45 dB或低20log(1–0.32–0.006)=–3.43 dB。

這仍然是相當大的不確定性,在生產(chǎn)測試中,可能會(huì )使實(shí)際滿(mǎn)足規范的過(guò)濾器無(wú)法通過(guò)測試,或使實(shí)際不符合規范的過(guò)濾器通過(guò)測試。幸運的是,正如我們將在下面看到的那樣,VNA校準技術(shù)允許我們進(jìn)一步提高精度。

單端口校準

為了模擬虛擬網(wǎng)絡(luò )分析及其測試電纜的缺陷,我們假設由未知s參數定義的誤差網(wǎng)絡(luò )(或誤差盒)位于虛擬網(wǎng)絡(luò )分析和被測設備輸入之間。

用于說(shuō)明虛擬網(wǎng)絡(luò )分析非理想性的錯誤框。

 17.png

?圖7。我們可以使用這個(gè)錯誤框來(lái)解釋VNA的非理想性。

由于非理想性通過(guò)錯誤框進(jìn)行說(shuō)明,我們可以假設虛擬網(wǎng)絡(luò )分析是理想的。理想VNA測量的輸入反射系數(Γin)與實(shí)際負載反射(ΓL)通過(guò)以下方程式相關(guān):

 18.png

?方程式11。

我們在這個(gè)方程式中總共有四個(gè)未知值:e00、e01、e10和e11。然而,我們可以通過(guò)將項e10e01解釋為單個(gè)參數來(lái)將未知的數量減少到三個(gè)。這三個(gè)誤差項中的每一個(gè)都與系統誤差的物理源相關(guān)聯(lián)——e00與系統的有效方向性相關(guān),e11表示源匹配誤差,e10e01是反射跟蹤誤差。

為了確定這些未知參數,我們測量了三個(gè)已知終端。在虛擬網(wǎng)絡(luò )分析中,這些終端被稱(chēng)為校準標準。一旦我們測量了開(kāi)口、短路和(匹配)負載校準標準,我們就可以為三個(gè)未知值(e00、e10e01和e11)中的每一個(gè)求解方程式。

在這些誤差項不再未知的情況下,我們可以使用Γ的測量值來(lái)確定ΓL和負載終止阻抗。由于誤差信號分量以向量方式加到所需信號中,我們需要知道誤差項的大小和相位信息。然后,虛擬網(wǎng)絡(luò )分析可以使用數學(xué)方法糾正這種系統誤差。

雖然不能完全消除誤差,但校準技術(shù)仍然可以顯著(zhù)地減少測量不確定性——例如,應用校準技術(shù)可以將系統的方向性從大約30dB提高到45dB。在本系列的下一篇文章中,我們將了解一些以這種方式更難以糾正的錯誤。

所有圖片均由史蒂夫·阿拉爾提供




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