OLED光電性能綜合測試系統的方案
4 系統軟件設計
4.1 下位機軟件設計
系統軟件采用C語(yǔ)言編寫(xiě),在IAR公司提供的集成調試環(huán)境Workbech下采用模塊化思想進(jìn)行設計。系統的軟件程序固化在MSP430F149單片機的內部Flash存儲器中。系統的程序流程如圖4所示。整個(gè)流程可分為初始化、命令解析、數據測量、數據處理及顯示程序。程序設計借鑒實(shí)時(shí)操作系統的思想,劃分事件和目標。系統按照工作過(guò)程共有命令解析、聯(lián)機、校準、測量判斷、數據采集、數據打包發(fā)送等幾個(gè)事件,通過(guò)對事件的處理來(lái)完成相應的功能,并進(jìn)行必要的狀態(tài)轉換。當電壓改變后,接收到測量命令,進(jìn)入測量狀態(tài),將數據發(fā)送并顯示,回到空閑狀態(tài)繼續等待命令然后進(jìn)行相應的操作。
4.2 上位機軟件設計
上位機軟件使用visual C++編寫(xiě),進(jìn)行由上到下的模塊式總體設計,通過(guò)visual C++中的串行通信編程控件MSComm,采用事件驅動(dòng)方法接受數據。圖5所示為系統的總體設計框圖。
上位機軟件管理系統由參數設置、實(shí)時(shí)監測、信息查詢(xún)分析顯示及其他輔助功能組成。
系統是集電壓、電流、亮度和溫度的自動(dòng)采集、預處理、數據存儲為一體的綜合信息平臺。使用RS-232通信實(shí)現程控電源、下位機和計算機的通信,實(shí)時(shí)獲取亮度、溫度、電流數據,把當前電壓下對應的亮度、溫度和電流值存入數據庫中,并繪制出實(shí)時(shí)曲線(xiàn)。在歷史數據查詢(xún)中,可以對不同結構的OLED器件的測量結果進(jìn)行對比分析。
5 結論
提出了一種以微控制器為核心的OLED光電性能綜合測試系統的方案,系統可以在一個(gè)平臺上同時(shí)對發(fā)光器件的各種光電特性進(jìn)行測量,實(shí)現了光電特性實(shí)驗的計算機化。OLED光電性能綜合測試系統的開(kāi)發(fā)過(guò)程和實(shí)際應用表明,該系統可以實(shí)現快速、準確、可靠的自動(dòng)化測量,提高了工作效率。
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