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抗輻射晶體管3DK9DRH的貯存失效分析

作者: 時(shí)間:2013-06-14 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 收藏

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的主要工藝流程是:經(jīng)過(guò)切片、研磨和拋光等過(guò)程后,制備成厚度大約為300~500μm的圓形硅片作為器件的襯底,隨后進(jìn)行外延生長(cháng)、氧化、光刻、擴散、蒸發(fā)、壓焊和多次硅片清洗,表面鈍化、最后進(jìn)行成品封裝。在本文中,是1995年生產(chǎn)的,裝機后一直處于存儲狀態(tài),每隔一個(gè)時(shí)期通一次電,最近通電發(fā)現晶體管失效,失效現象為集電極c和發(fā)射極e間的耐壓降低,飽和電壓與指標不符。
將失效樣品標號為10#,同時(shí)取同期生產(chǎn)的、不同期生產(chǎn)的6只同型號產(chǎn)品作為對比件,其中1995年生產(chǎn)的抗產(chǎn)品標號為1#,2#,3#,2003年生產(chǎn)的抗輻照產(chǎn)品標號為7#,8#,9#。
首先對失效樣品和6只對比件進(jìn)行電性能測試。10#的Vces>1.024 V,hfe=9.4,BVcbo=91.1 V,BVceo=55.1 V,從數據可以看出10#樣品的飽和壓降嚴重超標,并且放大倍數、c-b結耐壓、c-e結耐壓都超標。1#~3#樣品的e—e,c—b同樣結耐壓超標,3#樣品Iceo=8.86 μA,明顯看出c—e漏電流超標。7#~9#樣品的c-b結耐壓超標,7#~8#樣品的c—e結耐壓不合格;9#樣品的c—e結耐壓合格。
對1#~3#和10#樣品進(jìn)行了檢漏檢測,結果為3#粗檢漏、細檢漏都不合格,2#細檢漏不合格,1#和10#樣品粗檢漏、細檢漏都合格,需進(jìn)行下一步檢查。接著(zhù)對1#和10#樣品進(jìn)內部水汽檢測,結果10#樣品內部水汽含量為3.65%,1#樣品內部水汽含量為1.02%,一般要求水汽小于0.5%,因此兩者都不合格,10#更為嚴重。開(kāi)封檢查發(fā)現,10#失效件內部芯片表面有白毛。加工時(shí)尾絲長(cháng)達160mm,而合格標準為120 mm。其余2#件尾絲為170 mm、3#件尾絲為160 mm,只有1#件鏡檢合格。

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/189580.htm

c.JPG


對10#樣品(失效件)進(jìn)行掃描電鏡內部成分分析,如圖2所示:取A,B,C,D四點(diǎn)進(jìn)行能譜成分分析,結果如圖3所示。從圖中看出失效件中存在鉀、鈦、氧、鐵、鈉、硅、金、硫等元素,而硫元素含量極高。
過(guò)程匯總后,得到表2所示的結果。

d.JPG


通過(guò)上述分析可知,在電性能測試中:產(chǎn)品的耐壓BVcbo和BVceo基本上都達不到產(chǎn)品的指標,失效器件的電性能不合格屬于功能失效。內部水汽檢測說(shuō)明該產(chǎn)品在生產(chǎn)封裝時(shí)沒(méi)有進(jìn)行內部水汽控制。
而芯片表面長(cháng)白毛一方面是因為內部水汽含量過(guò)高,另一方面根據對10#樣品進(jìn)行的掃描電鏡內部成份分析得到的數據分析,發(fā)現各采樣點(diǎn)硫元素的含量很高,產(chǎn)品內部存在硫等物質(zhì),導致產(chǎn)生氧化腐蝕反應。這表明該失效件在生產(chǎn)時(shí)的工藝存在問(wèn)題,導致硫元素殘存量過(guò)高。
因此,分析認為此次晶體管3DK9DRH的生產(chǎn)工藝存在問(wèn)題,器件硫元素含量過(guò)高,再加之元器件內部水汽未加以控制,在相當一段貯存時(shí)間后,晶體管內部發(fā)生氧化腐蝕反應,致使該元件產(chǎn)生功能失效。
建議以后如果再發(fā)現同批次生產(chǎn)的3DK9DRH晶體也存在類(lèi)似情況,有可能是生產(chǎn)工藝時(shí)存在問(wèn)題,生產(chǎn)廠(chǎng)家有必要進(jìn)行工藝檢查。

3 結語(yǔ)
本文結合外部檢查、電性能測試、檢漏、內部水汽檢測、開(kāi)封檢查、內部成份分析等項目,完成了對晶體管3DK9DRH進(jìn)行的一種貯存失效分析。該失效樣品在產(chǎn)生工藝過(guò)程中存在問(wèn)題,未對水汽加以控制,導致內部水汽超標,加之晶體管工藝制造中引入了硫元素,內部硫元素含量很高,在貯存期間器件發(fā)生內部氧化腐蝕反應,導致芯片表面長(cháng)白毛。對此本文建議生產(chǎn)廠(chǎng)家進(jìn)行必要的工藝檢查,同時(shí)對內部水汽加以控制,要及時(shí)剔除有缺陷的產(chǎn)品,減少系統試驗和運行工作時(shí)的故障,提高系統、設備的可靠性,避免不合格的貯存器件使用時(shí)造成災難性的后果。


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