NI參加2013年汽車(chē)測試及質(zhì)量監控博覽會(huì )

　　美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)于2013年9月10日至12日參加在上海光大會(huì )展中心舉辦的2013年汽車(chē)測試及質(zhì)量監控博覽會(huì )。在此次汽車(chē)測試與質(zhì)量監控博覽會(huì )上面，NI聯(lián)合多家業(yè)內資深的合作伙伴集中展示了在汽車(chē)領(lǐng)域多項前端應用和解決方案。

　　NI公司的產(chǎn)品幾乎被所有的汽車(chē)OEM與一級供應商所采用。因為具有領(lǐng)先的I/O、靈活的硬件、強大高效的LabVIEW平臺，用戶(hù)可以創(chuàng )建適合多種應用的解決方案。目前，NI的產(chǎn)品涉及了快速控制原型、汽車(chē)終端測試、TEST Cell的測量與控制、硬件在環(huán)、車(chē)載測試與記錄等幾大領(lǐng)域。在此次博覽會(huì )上NI帶來(lái)了下列幾項產(chǎn)品的展示:

　　· 新能源高仿電機的μ秒級仿真
　　· 汽車(chē)電子綜合功能測試系統
　　· 高可靠性數據采集與分析管理
　　· ECU 硬件在環(huán)仿真(HIL)與快速原型設計 (RCP)
　　· 噪音、振動(dòng)與舒適度(NVH)
　　· 汽車(chē)總線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )監控與驗證
　　· 引擎控制設計與燃燒分析系統
　　· 高效的汽車(chē)行業(yè)測控設計軟件工具鏈
　　· NI 測量、采集與控制硬件平臺

　　與此同時(shí)，NI攜手幾家業(yè)界資深合作伙伴(北京恒潤科技、蘇州凌創(chuàng )電子、上海聚星儀器和上海其高電子)分別就ECU硬件在環(huán)、電控單元自動(dòng)化測試、車(chē)載數據采集、存在與管理和汽車(chē)NVH & 模態(tài)等等提供了完整的解決方案。展會(huì )現場(chǎng)多家合作伙伴也提供了他們對于整車(chē)廠(chǎng)商和一級供應商提供的成熟解決方案。

　　在展會(huì )期間，NI 行業(yè)市場(chǎng)部經(jīng)理付文武以“NI 開(kāi)放平臺助力汽車(chē)行業(yè)測控應用的發(fā)展”為題作了主題報告，介紹了 NI 及業(yè)內合作伙伴在汽車(chē)電子自動(dòng)測試、硬件在環(huán)與快速原型設計、新能源汽車(chē)及關(guān)鍵部件測試、車(chē)載數據采集等應用領(lǐng)域的最新進(jìn)展。

　　相信通過(guò)此次博覽會(huì )，客戶(hù)一定可以就NI在汽車(chē)電子測試領(lǐng)域的理念和產(chǎn)品有一個(gè)較全面的了解。