電化學(xué)整流電源電聯(lián)接方案的優(yōu)化設計

西安電力電子技術(shù)研究所張大衛胡建斌摘要：闡述了目前電化學(xué)整流電源電聯(lián)接方案設計存在的缺陷，提出了以效率為目標進(jìn)行優(yōu)化設計，并通過(guò)建立優(yōu)化模型和目標函數得以實(shí)現，證實(shí)了這種優(yōu)化方法的可行性。
關(guān)鍵詞：電化學(xué)整流，損耗，模型，優(yōu)化

1引言

電化學(xué)整流電源是一種高耗能設備，提高整流效率、降低額外損耗是這類(lèi)電力電子變換裝置的一個(gè)重要的課題。一般來(lái)說(shuō)，對于符合設計要求（電壓、電流、機組效率等）的設計方案可以有多種，通常首先按照經(jīng)驗選定整流裝置的電路型式，然后根據可以選用的最大器件進(jìn)行計算整流裝置的具體結構[1]。這樣設計可以使并聯(lián)支路數最少，但是效率并不一定達到最高。隨著(zhù)大功率器件制造水平的提高以及壓接工藝技術(shù)的改進(jìn)，均流問(wèn)題也不再突出，所以從效率、損耗方面進(jìn)行優(yōu)化設計是必要的。

2優(yōu)化設計

2.1問(wèn)題分析

優(yōu)化就是通過(guò)對數學(xué)方法的研究去尋找時(shí)間事件的最優(yōu)解[2]。它一般可以用數學(xué)模型描述為：minf(x)，s.t.g(x)≥0，x∈D。其中f(x)為目標函數，g(x)為約束函數，x為決策變量，D表示有限個(gè)點(diǎn)組成的集合。一個(gè)優(yōu)化問(wèn)題可用三個(gè)參數(D，F，f)表示，其中D表示決策變量的定義域，F表示可行解區域F={x|x∈D，g(x)≥0}，F中的任何一個(gè)元素稱(chēng)為該問(wèn)題的可行解，f表示目標函數。所以進(jìn)行優(yōu)化的首要任務(wù)就是建立優(yōu)化模型。

計算電化學(xué)整流裝置的效率相對復雜，而損耗的計算比較易行和準確，所以一般采用所謂的“分離損耗法”（疊加損耗法）[1]，即：η=（1）

式中：η表示效率；

PdN表示直流側輸出總功率；

∑ΔW表示整流裝置總損耗。

這樣求解效率最高的問(wèn)題就轉換為如何使損耗最小。電化學(xué)整流電源的損耗包括整流裝置損耗、整流變壓器和各類(lèi)電抗器損耗以及一些輔助系統損耗，而整流裝置的損耗主要是整流器件和快速熔斷器的損耗，所以問(wèn)題進(jìn)一步集中在對這兩部分損耗的綜合評估。

2.2優(yōu)化模型確定

圖1整流臂支路結構

根據上面的分析，優(yōu)化模型的確定也就是與電聯(lián)接相關(guān)的損耗函數的確定，電化學(xué)整流裝置整流臂支路結構如圖1所示。按照整流裝置的運行特點(diǎn)，為抑制空穴積蓄效應產(chǎn)生的換相過(guò)電壓整流器件并聯(lián)RC回路，其電阻R上的損耗在整流裝置的總損耗中所占比例很小，所以整流裝置的損耗主要包括整流器件正向損耗、反向損耗和快速熔斷器損耗三部分。

表1常規設計與優(yōu)化設計結果的比較

電化學(xué)整流裝置中整流器件正向損耗ΔWZ為：

ΔWZ=U0IA(AV)＋IT2ron（2）

式中：U0為導通門(mén)檻電壓；

IA(AV)為整流器件平均工作電流；

IT為整流器件電流有效值；

ron為導通電阻。

對于整流臂為nb個(gè)器件并聯(lián)，共有m個(gè)整流臂的整流裝置器件正向損耗ΔWGZ為：ΔWGZ=m(U0IA(AV)＋IT2)（3）

式中：IA(AV）=Id×KAi/(m×KI)

IT=KATIA(AV）

其中：Id為設計輸出直流電流；

KAi為電流儲備系數；

KI為均流系數；

KAT為整流器件電流有效值與平均值關(guān)系系數，對于三相橋式整流為1.732。

（2）整流器件反向損耗計算

對整流臂數m，每臂并聯(lián)支路數為nb的器件反向功率總損耗ΔWGF為：

ΔWGF=m·nb·UF（AV）·Ir(AV)（4）

式中：UF（AV）為整流器件反向電壓平均值；